ZH
EN
KR
JP
ES
DE

Размеры электронного микроскопа

Размеры электронного микроскопа, Всего: 167 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Размеры электронного микроскопа, являются: Линейные и угловые измерения, Электрические провода и кабели, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Физика. Химия, Электронные устройства отображения, Словари, Аналитическая химия, Качество воздуха, Фотография, Жидкостные энергетические системы, Условия и процедуры испытаний в целом, Обработка поверхности и покрытие, Продукция химической промышленности, Метрология и измерения в целом, Строительные материалы.

Group Standards of the People's Republic of China, Размеры электронного микроскопа

• T/SPSTS 030-2023 Измерение размера листа графенового материала с помощью сканирующей электронной микроскопии
• T/CSTM 00799-2023 Определение размера зерна в стали — метод высокотемпературного лазерного сканирующего конфокального микроскопа.
• T/CSTM 00003-2019 Измерение толщины двумерных материалов Атомно-силовая микроскопия (АСМ)
• T/CSTM 00162-2020 Методы калибровки просвечивающего электронного микроскопа

American Society for Testing and Materials (ASTM), Размеры электронного микроскопа

• ASTM F728-81(1997)e1 Стандартная практика подготовки оптического микроскопа к измерениям размеров
• ASTM F72-95(2001) Стандартные спецификации на золотую проволоку для соединения полупроводниковых выводов
• ASTM E2859-11(2023) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
• ASTM E2859-11 Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
• ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E986-04(2024) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E986-04(2010) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
• ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии

SCC, Размеры электронного микроскопа

• DIN 58881:1956 Микроскопы - Окуляры, установочные размеры
• BS 3836-2:1965 Спецификация компонентов микроскопов. Размеры и маркировка микроскопов
• DANSK DS/ISO 19749:2021 Нанотехнологии – Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
• DANSK DS/ISO 21363:2020 Нанотехнологии – Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
• 09/30199298 DC BS ISO 9344. Микроскопы. Сетки для окуляров
• DANSK DS/ISO 9220:2022 Металлические покрытия – Измерение толщины покрытия – Метод сканирующего электронного микроскопа
• BS ISO 22493:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
• BS EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа

RU-GOST R, Размеры электронного микроскопа

• GOST 3469-1991 Микроскопы. Винтовые резьбы для целей. Размеры
• GOST 11200-1975 Объективы и тубусы микроскопов. Прикрепление размеров
• GOST 3361-1975 Окуляры и тубусы микроскопов. Прикрепление размеров
• GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы

International Organization for Standardization (ISO), Размеры электронного микроскопа

• ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
• ISO 9344:2011 Микроскопы - Сетки для окуляров
• ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
• ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
• ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера.
• ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
• ISO/DIS 25498:2024 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
• ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
• ISO 8036:2006 Оптика и фотоника - Микроскопы - Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
• ISO 19214:2024 Микролучевой анализ — Аналитическая электронная микроскопия — Метод определения видимого направления роста нанокристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии
• ISO 8040:1986 Оптика и оптические приборы; Микроскопы; Присоединительные размеры направляющих и пазов для трубок
• ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
• ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
• ISO 8040:2001 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и прорезей для пробирок.
• ISO 15932:2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.

RO-ASRO, Размеры электронного микроскопа

• STAS 6851/1-1973 МИГРОСКОПЫ Основные размеры
• STAS 6851/2-1975 МИКРОСКОПЫ Основные оптические размеры
• STAS 7353/4-1982 МИКРОСКОПЫ Основные оптические размеры
• STAS 7353/3-1982 МИКРОСКОПЫ Основные механические размеры

British Standards Institution (BSI), Размеры электронного микроскопа

• BS ISO 19749:2021 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
• BS EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
• BS EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
• BS ISO 21363:2020 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
• BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
• 18/30351714 DC BS ISO 21363. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
• 18/30351679 DC BS ISO 19749. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
• BS ISO 9345:2019 Микроскопы. Размеры интерфейса для компонентов визуализации
• 18/30344520 DC BS ISO 21466. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
• BS ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
• BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
• 21/30412880 DC BS ISO 23729. Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
• BS ISO 8255-1:2017 Отслеживаемые изменения. Микроскопы. Накройте стаканы. Допуски на размеры, толщина и оптические свойства
• BS ISO 19214:2024 Микролучевой анализ. Аналитический электронный микроскоп. Метод определения видимого направления роста нанокристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
• 24/30479937 DC BS ISO 25498 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
• 18/30342638 DC BS ISO 9345. Микроскопы. Размеры интерфейса для компонентов визуализации
• BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
• 24/30474499 DC BS ISO 19214 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов методом просвечивающей электронной микроскопии
• BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
• BS ISO 8040:2001 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и прорезей для пробирок.
• BS ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов

European Committee for Standardization (CEN), Размеры электронного микроскопа

• EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
• EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)

KR-KS, Размеры электронного микроскопа

• KS C ISO 19749-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
• KS C ISO 21363-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
• KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп
• KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.

HU-MSZT, Размеры электронного микроскопа

• MNOSZ 5532-1956 Основные размеры микроскопа и вогнуто-выпуклого зеркала
• MNOSZ 5533-1956 Основные размеры фильтрации внутреннего канального микроскопа с конденсорной линзой

Spanish Association for Standardization (UNE), Размеры электронного микроскопа

• UNE-EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в феврале 2022 г.)
• UNE-EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в мае 2023 г.)

Professional Standard - Machinery, Размеры электронного микроскопа

• JB/T 8230.5-1999 Микроскопы. Присоединительные и установочные размеры окуляра (окуляра) и тубуса.
• JB/T 7398.2-1994 Размеры оптического соединения микроскопа
• JB/T 8230.12-1999 Микроскопы. Присоединительные размеры предметных стекол и пазов для пробирок.
• JB/T 9339-1999 Измерительный микроскоп
• JB/T 5480-1991 Диафрагма электронного микроскопа
• JB/T 5481-1991 Нить лампы электронного микроскопа
• JB/T 7398.6-1994 Микроскоп – линейка движения
• JB/T 8230.8-1999 Микроскопы. Присоединительные размеры съемного конденсора и цветного фильтра.
• JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
• JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа
• JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
• JB/T 9349-1999 Измерительные ножи для инструментального микроскопа
• JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
• JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
• JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа

VE-FONDONORMA, Размеры электронного микроскопа

• NORVEN 84-4-1963 Размеры стойки для микроскопа

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Размеры электронного микроскопа

• IPC TM-650 2.2.14.1-1995 Распределение частиц припоя по размерам – метод измерительного микроскопа

PL-PKN, Размеры электронного микроскопа

• PN N53040-1988 Световые микроскопы Оптико-механические размеры

German Institute for Standardization, Размеры электронного микроскопа

• DIN EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии – измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
• DIN EN ISO 21363 E:2021-09 Нанотехнологическое измерение распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии (проект)
• DIN EN ISO 19749:2023-07 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
• DIN EN ISO 21363:2022-03 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
• DIN EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
• DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
• DIN ISO 8040:2003 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и пазов для пробирок (ISO 8040:2001)
• DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.

IN-BIS, Размеры электронного микроскопа

• IS 3081-1965 Размеры и маркировка микроскопов общего назначения
• IS 4329-1967 Технические характеристики измерительных (передвижных) микроскопов

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Размеры электронного микроскопа

• GB/T 22060-2008 Микроскопы. Размеры предметных стекол и соединений пробирок.
• GB 7667-2003 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
• GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа

GSO, Размеры электронного микроскопа

• GSO ISO 15932:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
• OS GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
• BH GSO ISO 25498:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
• GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
• GSO ISO 9220:2013 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
• OS GSO ISO 15932:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
• BH GSO ISO 15932:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
• BH GSO ISO 22493:2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
• GSO ISO 22493:2015 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
• OS GSO ISO 8036:2015 Оптика и фотоника. Микроскопы. Жидкости иммерсионные для световой микроскопии.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Размеры электронного микроскопа

• JIS B 7153:1995 Измерительные микроскопы
• JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
• JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
• JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
• JIS B 7150:1993 Микрометрические микроскопы

Association Francaise de Normalisation, Размеры электронного микроскопа

• NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Определение распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
• NF EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии - Определение распределения частиц по размерам и форме методом сканирующей электронной микроскопии
• NF ISO 15932:2014 Микролучевой анализ - Аналитическая электронная микроскопия - Словарь
• NF S12-023:1988 ОПТИКА И ОПТИЧЕСКИЕ ПРИБОРЫ. МИКРОСКОПЫ. ПРИСОЕДИНИТЕЛЬНЫЕ РАЗМЕРЫ ТРУБНЫХ НАПРАВЛЯЮЩИХ И ТРУБНЫХ ПНЕВ.
• NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
• NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
• NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會, Размеры электронного микроскопа

• GB/T 22055-2022 Микроскопы — размеры сопряжения для компонентов визуализации.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Размеры электронного микроскопа

• KS B 5601-1995(2016) Микрометрические микроскопы
• KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
• KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
• KS B ISO 8040-2006(2021) Оптика и фотоника. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и пазов пробирок.
• KS B ISO 8478-2006(2016) Оптика и фотоника. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и пазов пробирок.
• KS B ISO 8040-2006(2016) Оптика и фотоника. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и пазов пробирок.
• KS B ISO 8478-2006(2021) Оптика и фотоника. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и пазов пробирок.
• KS B 5601-1995 Микрометрические микроскопы
• KS B 5601-1995(2021) Микрометрические микроскопы
• KS I ISO 4407:2012 Силовая гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа.
• KS B 5601-2021 Микрометрические микроскопы
• KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
• KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие－Измерение толщины покрытия－Метод просвечивающей электронной микроскопии
• KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
• KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
• KS B ISO 8040:2006 Оптика и оптические инструменты－Микроскопы－Размеры соединений предметных стекол и пазов для пробирок
• KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
• KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
• KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
• KS D ISO 9220-2022 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
• KS D 8544-2021 Металлическое покрытие－Измерение толщины покрытия－Метод просвечивающей электронной микроскопии
• KS B 5617-1993 Предметный микрометр для биологического микроскопа
• KS B 5617-2013 Предметный микрометр для биологического микроскопа
• KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Размеры электронного микроскопа

• JJG 571-2004 Читающий микроскоп и измерительный микроскоп
• JJG(地質) 1016-1990 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
• JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
• JJG 571-1988 Регламент поверки измерительного микроскопа
• JJG(教委) 12-1992 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會, Размеры электронного микроскопа

• GB/T 33714-2017 Нанотехнология. Метод определения размера наночастиц. Атомно-силовая микроскопия.

SE-SIS, Размеры электронного микроскопа

• SIS SS 11 11 15-1985 Сталь. Метод оценки содержания шлаковых включений. Микроскопические методы. Ручной подсчет частиц и расчет распределения по размерам.
• SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

Professional Standard - Education, Размеры электронного микроскопа

• JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Размеры электронного микроскопа

• JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)

Danish Standards Foundation, Размеры электронного микроскопа

• DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

Military Standards (MIL-STD), Размеры электронного микроскопа

• DOD A-A-51689-1986 ДИСК, МИКРОМЕТР, ОКУЛЬ МИКРОСКОПА

Другие:   измерение размера ISO, Измерение размера частиц, Измерение погрешности размеров, Измерение размера частиц, измерение размера, измерение размера, измерение большого размера, Приборы для измерения размеров, Измерение линейных размеров, Центр измерения размеров, Микроскоп для измерения размеров, Система измерения размеров, измерить размер, Измерение линейных размеров, измерить размер подачки, Измерение геометрии, Среда измерения размеров, размер мера размера.