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DE Dimensiones del microscopio electrónico
Dimensiones del microscopio electrónico, Total: 167 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Dimensiones del microscopio electrónico son: Medidas lineales y angulares., Alambres y cables eléctricos., Equipo óptico, Física. Química, óptica y medidas ópticas., Dispositivos de visualización electrónica., Vocabularios, Química analítica, Calidad del aire, Fotografía, Sistemas de energía fluida, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Tratamiento superficial y revestimiento., Productos de la industria química., Metrología y medición en general., Materiales de construcción.
Group Standards of the People's Republic of China, Dimensiones del microscopio electrónico
- T/SPSTS 030-2023 Medición del tama?o de la hoja de material de grafeno mediante microscopía electrónica de barrido
- T/CSTM 00799-2023 Determinación del tama?o de grano en acero: método de microscopio confocal de barrido láser de alta temperatura
- T/CSTM 00003-2019 Mediciones de espesor de materiales bidimensionales Microscopía de fuerza atómica (AFM)
- T/CSTM 00162-2020 Métodos de calibración para microscopio electrónico de transmisión.
American Society for Testing and Materials (ASTM), Dimensiones del microscopio electrónico
- ASTM F72-95(2001) Especificación estándar para alambre de oro para unión de conductores de semiconductores
- ASTM F728-81(1997)e1 Práctica estándar para preparar un microscopio óptico para mediciones dimensionales
- ASTM E2859-11(2023) Guía estándar para la medición del tama?o de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2859-11 Guía estándar para la medición del tama?o de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
- ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tama?o del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tama?o del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E986-04(2024) Práctica estándar para la caracterización del tama?o del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tama?o del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tama?o del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E2090-12 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tama?o de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
- ASTM E2090-00 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tama?o de partículas y fibras liberadas por limpiadores de salas limpias mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
SCC, Dimensiones del microscopio electrónico
- DIN 58881:1956 Microscopios - Oculares, dimensiones de ajuste
- BS 3836-2:1965 Especificación de componentes de microscopios. Dimensiones y marcado de microscopios.
- DANSK DS/ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones del tama?o de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
- DANSK DS/ISO 21363:2020 Nanotecnologías: mediciones del tama?o de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de transmisión.
- 09/30199298 DC BS ISO 9344. Microscopios. Retículas para oculares
- DANSK DS/ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos – Medición del espesor del recubrimiento – Método del microscopio electrónico de barrido
- BS ISO 22493:2008 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
- BS EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- BS 7012-5:1988 Microscopios ópticos: especificación para conectar dimensiones de portaobjetos y ranuras para tubos
RU-GOST R, Dimensiones del microscopio electrónico
- GOST 3469-1991 Microscopios. Roscas de tornillos para objetivos. Dimensiones
- GOST 11200-1975 Objetivos y cuerpo-tubos de los microscopios. Adjuntar dimensiones
- GOST 3361-1975 Oculares y cuerpo-tubos de los microscopios. Adjuntar dimensiones
- GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido
International Organization for Standardization (ISO), Dimensiones del microscopio electrónico
- ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
- ISO 9344:2011 Microscopios - Retículas para oculares
- ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tama?o de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
- ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
- ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Microscopía de fuerza atómica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tama?o de sonda finito.
- ISO/DIS 25498:2024 Análisis de microhaces-Microscopía electrónica analítica-Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
- ISO/CD 25498:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas utilizando un microscopio electrónico de transmisión.
- ISO/CD 19214:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
- ISO 8036:2006 óptica y fotónica - Microscopios - Líquidos de inmersión para microscopía óptica
- ISO 19214:2024 Análisis de microhaz — Microscopía electrónica analítica — Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de nanocristales mediante microscopía electrónica de transmisión
- ISO 8040:1986 óptica e instrumentos ópticos; Microscopios; Dimensiones de conexión de guías para tubos y ranuras para tubos
- ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
- ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
- ISO 8040:2001 óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Dimensiones de las conexiones del portaobjetos y de las ranuras del tubo
RO-ASRO, Dimensiones del microscopio electrónico
KR-KS, Dimensiones del microscopio electrónico
- KS C ISO 21363-2023 Nanotecnologías: mediciones del tama?o de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de transmisión.
- KS C ISO 19749-2023 Nanotecnologías: mediciones del tama?o de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
- KS D 2716-2023 Medición del diámetro de nanopartículas: microscopio electrónico de transmisión
- KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
British Standards Institution (BSI), Dimensiones del microscopio electrónico
- BS ISO 19749:2021 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tama?o de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
- BS EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tama?o de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión.
- BS EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tama?o de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
- BS ISO 21363:2020 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tama?o de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión.
- BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
- 18/30351714 DC BS ISO 21363. Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tama?o de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión.
- 18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tama?o de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
- BS ISO 9345:2019 Microscopios. Dimensiones de interfaz para componentes de imágenes
- BS ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tama?o de sonda finito
- 18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
- BS ISO 25498:2018 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión.
- 21/30412880 DC BS ISO 23729. Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tama?o de sonda finito
- BS ISO 19214:2024 Análisis de microhaz. Microscopio electrónico analítico. Método de determinación de la dirección aparente de crecimiento de nanocristales mediante microscopía electrónica de transmisión
- BS ISO 8255-1:2017 Cambios rastreados. Microscopios. Cubre vasos. Tolerancias dimensionales, espesores y propiedades ópticas.
- 18/30342638 DC BS ISO 9345. Microscopios. Dimensiones de interfaz para componentes de imágenes
- 24/30479937 DC BS ISO 25498 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
- BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
- 24/30474499 DC BS ISO 19214 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
- BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- BS ISO 8040:2001 óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Dimensiones de las conexiones del portaobjetos y de las ranuras del tubo
European Committee for Standardization (CEN), Dimensiones del microscopio electrónico
- EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tama?o de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021)
- EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
HU-MSZT, Dimensiones del microscopio electrónico
Professional Standard - Machinery, Dimensiones del microscopio electrónico
- JB/T 8230.5-1999 Microscopios. Dimensiones de conexión y ajuste entre el ocular (ocular) y el tubo.
- JB/T 7398.2-1994 Dimensiones de la conexión óptica del microscopio
- JB/T 9339-1999 microscopio de medición
- JB/T 8230.12-1999 Microscopios. Dimensiones de conexión de portaobjetos y ranuras para tubos.
- JB/T 5480-1991 Diafragma de microscopio electrónico.
- JB/T 5481-1991 Filamento de lámpara de microscopio electrónico.
- JB/T 7398.6-1994 Microscopio - Regla de movimiento
- JB/T 8230.8-1999 Microscopios. Dimensiones de conexión del condensador desmontable y el filtro de color.
- JB/T 5585-1991 Método de prueba de resolución del microscopio electrónico de transmisión.
- JB/T 5584-1991 Método de prueba de amplificación por microscopio electrónico de transmisión.
- JB/T 9349-1999 Cuchillas de medición para el microscopio del fabricante de herramientas.
- JB/T 5383-1991 Especificación para microscopio electrónico de transmisión.
- JB/T 9352-1999 Método de prueba para el microscopio electrónico de transmisión.
- JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas
- JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
Spanish Association for Standardization (UNE), Dimensiones del microscopio electrónico
- UNE-EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías - Mediciones de distribuciones de tama?o y forma de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión (ISO 21363:2020) (Ratificada por la Asociación Espa?ola de Normalización en febrero de 2022.)
- UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías - Mediciones de distribuciones de tama?o y forma de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021) (Ratificada por la Asociación Espa?ola de Normalización en mayo de 2023.)
VE-FONDONORMA, Dimensiones del microscopio electrónico
- NORVEN 84-4-1963 TAMA?O DE LOS SOPORTES RECO MENDADOS PARA LAS MICROCO- PIAS TRANSPARENTES
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Dimensiones del microscopio electrónico
PL-PKN, Dimensiones del microscopio electrónico
German Institute for Standardization, Dimensiones del microscopio electrónico
- DIN EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías: mediciones de la distribución del tama?o y la forma de las partículas mediante microscopía electrónica de transmisión.
- DIN EN ISO 21363 E:2021-09 Medición nanotecnológica de la distribución del tama?o y la forma de las partículas mediante microscopía electrónica de transmisión (borrador)
- DIN EN ISO 21363:2022-03 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tama?o de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión (ISO 21363:2020); Versión alemana EN ISO 21363:2022
- DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tama?o de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021); Versión alemana EN ISO 19749:2023
- DIN EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tama?o de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021)
- DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
- DIN ISO 8040:2003 óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Dimensiones de las conexiones del portaobjetos y de las ranuras del tubo (ISO 8040:2001)
- DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
IN-BIS, Dimensiones del microscopio electrónico
- IS 3081-1965 DIMENSIONES Y MARCADO DE MICROSCOPIOS DE USO GENERAL (Primera reimpresión ENERO DE 1973)
- IS 4329-1967 ESPECIFICACIóN PARA EL MICROSCOPIO DE MEDICIóN (VIAJE)
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- OS GSO ISO 25498:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
- BH GSO ISO 25498:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
- GSO ISO 25498:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
- GSO ISO 9220:2013 Recubrimientos metálicos -- Medición del espesor del recubrimiento -- Método del microscopio electrónico de barrido
- OS GSO ISO 15932:2015 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica analítica -- Vocabulario
- BH GSO ISO 15932:2017 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica analítica -- Vocabulario
- BH GSO ISO 22493:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
- GSO ISO 22493:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
- OS GSO ISO 8036:2015 óptica y fotónica -- Microscopios -- Líquidos de inmersión para microscopía óptica
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Dimensiones del microscopio electrónico
- GB/T 22060-2008 Microscopios: dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
- GB 7667-1996 La dosis de fuga de rayos X del microscopio electrónico.
- GB 7667-2003 La dosis de fuga de rayos X del microscopio electrónico.
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- JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
- JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
- JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
- JIS B 7150:1993 Microscopios micrométricos
國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會, Dimensiones del microscopio electrónico
- GB/T 22055-2022 Microscopios: dimensiones de interfaz para componentes de imágenes
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- NF EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías - Determinación del tama?o de partículas y distribución de formas mediante microscopía electrónica de transmisión
- NF ISO 15932:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Vocabulario
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- NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
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- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Dimensiones del microscopio electrónico
- KS B 5601-1995(2016) Microscopios micrométricos
- KS D 2716-2008 Medición del diámetro de nanopartículas－Microscopio electrónico de transmisión
- KS D 2716-2008(2018) Medición del diámetro de nanopartículas－Microscopio electrónico de transmisión
- KS B ISO 8040-2006(2021) óptica y fotónica — Microscopios — Dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
- KS B ISO 8478-2006(2016) óptica y fotónica — Microscopios — Dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
- KS B ISO 8040-2006(2016) óptica y fotónica — Microscopios — Dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
- KS B ISO 8478-2006(2021) óptica y fotónica — Microscopios — Dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
- KS B 5601-1995(2021) Microscopios micrométricos
- KS B 5601-1995 Microscopios micrométricos
- KS I ISO 4407:2012 Potencia de fluido hidráulico-Contaminación de fluidos-Determinación de contaminación por partículas mediante el método de conteo mediante microscopio óptico
- KS B 5601-2021 Microscopios micrométricos
- KS D 8544-2006 Recubrimiento metálico-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopía electrónica de transmisión
- KS D 8544-2016(2021) Revestimiento metálico－Medición del espesor del revestimiento－Método de microscopía electrónica de transmisión
- KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
- KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
- KS B ISO 8040:2006 óptica e instrumentos ópticos－Microscopios－Dimensiones de las conexiones del portaobjetos y de las ranuras del tubo
- KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
- KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
- KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
- KS D ISO 9220-2022 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
- KS B 5617-1993 Micrómetro de escenario para microscopio biológico.
- KS D 8544-2021 Revestimiento metálico－Medición del espesor del revestimiento－Método de microscopía electrónica de transmisión
- KS B 5617-2013 Micrómetro de escenario para microscopio biológico.
- KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Dimensiones del microscopio electrónico
- JJG 571-2004 Microscopio de lectura y microscopio de medición.
- JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
- JJG(地質) 1016-1990 Reglamento de calibración para microscopía electrónica de transmisión
- JJG(教委) 12-1992 Reglamento de calibración para microscopía electrónica de transmisión
- JJG 571-1988 Reglamento de verificación del microscopio de medición.
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會, Dimensiones del microscopio electrónico
- GB/T 33714-2017 Nanotecnología: método de prueba para determinar el tama?o de las nanopartículas: microscopía de fuerza atómica
SE-SIS, Dimensiones del microscopio electrónico
- SIS SS 11 11 15-1985 Acero - Método para evaluar el contenido de inclusiones de escoria - Métodos microscópicos - Recuento manual de partículas y cálculo de la distribución de tama?o
- SIS SS-ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos. Mediciones del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
Danish Standards Foundation, Dimensiones del microscopio electrónico
- DS/EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
Professional Standard - Education, Dimensiones del microscopio electrónico
- JY/T 011-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de transmisión.
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Dimensiones del microscopio electrónico
- JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)
Military Standards (MIL-STD), Dimensiones del microscopio electrónico