電子顯微鏡 尺寸測量
本專題涉及電子顯微鏡 尺寸測量 的標準有167條。
國際標準分類中，電子顯微鏡 尺寸測量 涉及到長度和角度測量、電線和電纜、光學設備、物理學、化學、光學和光學測量、電子顯示器件、詞匯、分析化學、空氣質量、攝影技術、流體動力系統、試驗條件和規程綜合、表面處理和鍍涂、化工產品、計量學和測量綜合、建筑材料。
在中國標準分類中，電子顯微鏡 尺寸測量 涉及到、放大鏡與顯微鏡、物理學與力學、溫度與壓力儀表、光學計量儀器、電子光學與其他物理光學儀器、基礎標準與通用方法、公共醫療設備、稀有金屬及其合金分析方法、光學計量、光學測試儀器、物理污染分析測試方法、金屬化學分析方法綜合、材料防護、教育、學位、學銜、計量綜合、電磁計量、長度計量、技術管理。
中國團體標準，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- T/SPSTS 030-2023 石墨烯材料 片徑尺寸測量 掃描電子顯微鏡法
- T/CSTM 00799-2023 鋼中晶粒尺寸測定 高溫激光共聚焦顯微鏡法
- T/CSTM 00003-2019 二維材料厚度測量 原子力顯微鏡法
- T/CSTM 00162-2020 透射電子顯微鏡校準方法
美國材料與試驗協會，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- ASTM F72-95(2001) 尺寸測量用光學顯微鏡的制備
- ASTM F728-81(1997)e1 尺寸測量用光學顯微鏡的制備
- ASTM E2859-11(2023) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子尺寸的標準指南
- ASTM E2859-11 利用原子力學顯微鏡進行尺寸測量的標準指南
- ASTM E986-04(2017) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
- ASTM E986-97 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
- ASTM E986-04(2024) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
- ASTM E986-04(2010) 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標準實施規程
- ASTM E986-04 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標準實施規程
- ASTM E2090-12 利用光電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡對清潔室擦刷工具釋放粒子和纖維的尺寸差異計數的標準試驗方法
- ASTM E2090-00 利用光電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡對清潔室擦刷工具釋放粒子和纖維的尺寸差異計數的標準試驗方法
SCC，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- DIN 58881:1956 顯微鏡 目鏡安裝尺寸
- BS 3836-2:1965 顯微鏡部件規范 顯微鏡的尺寸和標記
- DANSK DS/ISO 19749:2021 納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- DANSK DS/ISO 21363:2020 納米技術 通過透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- 09/30199298 DC BS ISO 9344 顯微鏡 目鏡標尺
- DANSK DS/ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- BS ISO 22493:2008 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- BS EN ISO 9220:1995 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- BS 7012-5:1988 光學顯微鏡管滑道與管槽連接尺寸規范
RU-GOST R，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- GOST 3469-1991 顯微鏡.物鏡螺紋.尺寸
- GOST 11200-1975 顯微鏡物鏡與鏡筒.連接尺寸
- GOST 3361-1975 顯微鏡的目鏡與鏡筒.連接尺寸
- GOST R 8.594-2009 確保測量一致性的國家體系.掃描電子顯微鏡
國際標準化組織，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
- ISO 9344:2011 顯微鏡.目鏡測微尺
- ISO 19749:2021 納米技術.用掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- ISO 21466:2019 微束分析.掃描電子顯微鏡.用CD-SEM評定臨界尺寸的方法
- ISO 23729:2022 表面化學分析.原子力顯微鏡.有限探針尺寸放大原子力顯微鏡圖像的恢復程序指南
- ISO/CD 25498:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- ISO/DIS 25498:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- ISO/CD 19214:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定線狀晶體表觀生長方向的方法
- ISO 8036:2006 光學和光子學.顯微鏡.光學顯微鏡浸液
- ISO 19214:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 用透射電子顯微鏡測定納米晶體表觀生長方向的方法
- ISO 8040:1986 光學和光學儀器.顯微鏡.鏡筒導板和鏡筒槽的連接尺寸
- ISO 9220:1988 金屬覆蓋層 鍍層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- ISO 8040:2001 光學和光學儀器 顯微鏡 鏡筒導板和鏡筒槽的連接尺寸
- ISO 15932:2013 微光束分析.分析電子顯微鏡.詞匯
RO-ASRO，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- STAS 6851/1-1973 顯微鏡．主要尺寸
- STAS 6851/2-1975 顯微鏡基本光學尺寸
- STAS 7353/4-1982 顯微鏡基本光學尺寸
- STAS 7353/3-1982 顯微鏡基本機械尺寸
英國標準學會，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- BS ISO 19749:2021 納米技術 用掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- BS EN ISO 21363:2022 納米技術 通過透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- BS EN ISO 19749:2023 納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- BS ISO 21363:2020 納米技術 通過透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- BS ISO 21466:2019 微束分析 掃描電子顯微鏡 CDSEM評估關鍵尺寸的方法
- 18/30351714 DC BS ISO 21363 納米技術 通過透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- 18/30351679 DC BS ISO 19749 納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- BS ISO 9345:2019 顯微鏡 成像組件的接口尺寸
- BS ISO 23729:2022 表面化學分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴張的原子力顯微鏡圖像恢復程序指南
- 18/30344520 DC BS ISO 21466 微束分析 掃描電子顯微鏡 CD-SEM 評估關鍵尺寸的方法
- BS ISO 25498:2018 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- 21/30412880 DC BS ISO 23729 表面化學分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴張的原子力顯微鏡圖像恢復程序指南
- BS ISO 19214:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定納米晶體表觀生長方向的方法
- BS ISO 8255-1:2017 顯微鏡 蓋上眼鏡 尺寸公差、厚度和光學特性
- 24/30479937 DC BS ISO 25498 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- 18/30342638 DC BS ISO 9345 顯微鏡 成像組件的接口尺寸
- BS EN ISO 9220:1989 金屬鍍層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- 24/30474499 DC BS ISO 19214 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定線狀晶體表觀生長方向的方法
- BS EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- BS ISO 8040:2001 光學和光學儀器.顯微鏡.鏡筒導板和鏡筒槽連接件尺寸
歐洲標準化委員會，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- EN ISO 19749:2023 納米技術.用掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- EN ISO 9220:2022 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
KR-KS，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- KS C ISO 19749-2023 納米技術——用掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- KS C ISO 21363-2023 納米技術——用透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- KS D 2716-2023 納米顆粒直徑的測量-透射電子顯微鏡
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
HU-MSZT，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- MNOSZ 5532-1956 顯微鏡及凹凸鏡主要尺寸
- MNOSZ 5533-1956 凝汽器透鏡內道顯微鏡過濾主要尺寸
行業標準-機械，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- JB/T 8230.5-1999 顯微鏡.目鏡和鏡筒的配合尺寸
- JB/T 7398.2-1994 顯微鏡 光學連接尺寸
- JB/T 8230.12-1999 顯微鏡.鏡筒滑塊和鏡筒槽的連接尺寸
- JB/T 9339-1999 測量顯微鏡
- JB/T 5480-1991 電子顯微鏡用光闌
- JB/T 5481-1991 電子顯微鏡用燈絲
- JB/T 7398.6-1994 顯微鏡.移動尺
- JB/T 8230.8-1999 顯微鏡.可拆卸之聚光鏡及濾色片的接尺寸
- JB/T 5585-1991 透射電子顯微鏡分辨力測試方法
- JB/T 5584-1991 透射電子顯微鏡放大率測試方法
- JB/T 9349-1999 工業顯微鏡用測量刀
- JB/T 5383-1991 透射電子顯微鏡技術條件
- JB/T 5384-1991 掃描電子顯微鏡.技術條件
- JB/T 9352-1999 透射電子顯微鏡 試驗方法
- JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗方法
西班牙標準化協會，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- UNE-EN ISO 21363:2022 納米技術 通過透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- UNE-EN ISO 19749:2023 納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
VE-FONDONORMA，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- NORVEN 84-4-1963 顯微鏡支撐架的尺寸
美國電子電路和電子互連行業協會，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- IPC TM-650 2.2.14.1-1995 焊錫粉末顆粒尺寸分布-測量顯微鏡法
PL-PKN，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- PN N53040-1988 光顯微鏡．光學機械尺寸
德國標準化學會，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- DIN EN ISO 21363:2022 納米技術 – 使用透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和顆粒形狀分布
- DIN EN ISO 21363 E:2021-09 納米技術 通過透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布（草案）
- DIN EN ISO 19749:2023-07 納米技術 - 通過掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布（ISO 19749:2021）
- DIN EN ISO 21363:2022-03 納米技術 - 通過透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布 (ISO 21363:2020)
- DIN EN ISO 19749:2023 納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布（ISO 19749:2021）
- DIN SPEC 52407:2015-03 納米技術 使用原子力顯微鏡(AFM)和透射掃描電子顯微鏡(TSEM)進行粒子測量的準備和評估方法
- DIN ISO 8040:2003 光學和光學儀器.顯微鏡.鏡筒導板和鏡筒槽的連接尺寸
- DIN EN ISO 9220:2022-05 金屬涂層-涂層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法
IN-BIS，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- IS 3081-1965 通用顯微鏡的尺寸和標記
- IS 4329-1967 測量（移動）顯微鏡規范
GSO，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- GSO ISO 15932:2015 微量分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- OS GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- BH GSO ISO 25498:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析掃描電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- GSO ISO 9220:2013 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- OS GSO ISO 15932:2015 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- BH GSO ISO 15932:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO 22493:2015 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- OS GSO ISO 8036:2015 光學和光子學 顯微鏡 光學顯微鏡用浸沒液體
國家質檢總局，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- GB/T 22060-2008 顯微鏡.鏡筒滑塊和鏡筒槽的連接尺寸
- GB 7667-1996 電子顯微鏡X射線泄漏劑量
- GB 7667-2003 電子顯微鏡X射線泄漏劑量
日本工業標準調查會，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- JIS B 7153:1995 測量顯微鏡
- JIS K 3850-1:2000 空氣中纖維粒子的測量方法.第1部分:光學顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
- JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則
- JIS K 3850-1:2006 空中纖維分子的測定.第1部分:光學顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
- JIS B 7150:1993 測微顯微鏡
國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- GB/T 22055-2022 顯微鏡 成像部件的連接尺寸
法國標準化協會，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- NF EN ISO 21363:2022 納米技術 - 通過透射電子顯微鏡測定顆粒尺寸和形狀分布
- NF EN ISO 19749:2023 納米技術 - 通過掃描電子顯微鏡測定顆粒尺寸和形狀分布
- NF ISO 15932:2014 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- NF S12-023:1988 光學和光學儀器.顯微鏡.鏡筒與鏡筒滑槽間的連接尺寸
- NF EN ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- NF A91-108:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
韓國科技標準局，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- KS B 5601-1995(2016) 千分尺顯微鏡
- KS D 2716-2008 納米粒子的直徑測量技術.透射電子顯微鏡
- KS D 2716-2008(2018) 納米顆粒直徑的測量－透射電子顯微鏡
- KS B ISO 8040-2006(2021) 光學和光子學.顯微鏡.管滑動和管槽連接的尺寸
- KS B ISO 8478-2006(2016) 光學和光子學顯微鏡管滑動和管槽連接的尺寸
- KS B ISO 8040-2006(2016) 光學和光子學顯微鏡管滑動和管槽連接的尺寸
- KS B ISO 8478-2006(2021) 光學和光子學.顯微鏡.管滑動和管槽連接的尺寸
- KS B 5601-1995 測微顯微鏡
- KS B 5601-1995(2021) 測微顯微鏡
- KS I ISO 4407:2012 液壓油.利用顯微鏡的測量法來測量微粒子污染
- KS B 5601-2021 測微顯微鏡
- KS D 8544-2006 金屬涂層.涂層厚度測量.透射電子顯微鏡法
- KS D 8544-2016(2021) 金屬涂層——涂層厚度測量——透射電子顯微鏡法
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS B ISO 8040:2006 光學和光學儀器.顯微鏡.鏡筒導板和鏡筒槽的連接尺寸
- KS D ISO 9220-2009(2017) 金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2009(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220:2009 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- KS B 5617-1993 生物顯微鏡鏡臺測微計
- KS D 8544-2021 金屬涂層 涂層厚度的測量 透射電子顯微鏡法
- KS B 5617-2013 生物顯微鏡鏡臺測微計
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.掃描電子顯微鏡.術語
國家計量檢定規程，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- JJG 571-2004 讀數、測量顯微鏡
- JJG(地質) 1016-1990 透射電子顯微鏡檢定規程
- JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規程
- JJG(教委) 12-1992 透射電子顯微鏡檢定規程
- JJG 571-1988 測量顯微鏡檢定規程
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- GB/T 33714-2017 納米技術 納米顆粒尺寸測量 原子力顯微術
SE-SIS，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- SIS SS 11 11 15-1985 鋼．夾渣含量評估方法．顯微鏡法．粒子人工計數和尺寸分布計算
- SIS SS-ISO 9220:1989 金屬涂層．涂層厚度測量．掃描電子顯微鏡方法
丹麥標準化協會，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- DS/EN ISO 9220:1995 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
行業標準-教育，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則
國家計量技術規范，關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準規范
美國國防部標準化文件（含MIL標準），關于電子顯微鏡 尺寸測量 的標準
- DOD A-A-51689-1986 顯微鏡目鏡測微計圓盤
