ZH
EN
KR
JP
ES
DE

электронный микроскоп сканирует вместе

электронный микроскоп сканирует вместе, Всего: 68 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к электронный микроскоп сканирует вместе, являются: Оптическое оборудование, Строительные материалы, Линейные и угловые измерения, Оптика и оптические измерения, Качество воздуха, Словари, Образование, Аналитическая химия, Обработка поверхности и покрытие, Цветные металлы, Электронные устройства отображения, Краски и лаки.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), электронный микроскоп сканирует вместе

• KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
• KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
• KS I 0051-2019 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
• KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
• KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
• KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
• KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
• KS D 2714-2016(2021) Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
• KS D 2714-2016 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы
• KS D 2714-2021 Сканирующий зондовый микроскоп - Метод для микроскопа боковой силы

International Organization for Standardization (ISO), электронный микроскоп сканирует вместе

• ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
• ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), электронный микроскоп сканирует вместе

• JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии

SCC, электронный микроскоп сканирует вместе

• 13/30203227 DC BS ISO 13083. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты по определению и калибровке пространственного разрешения сканирующей микроскопии сопротивления растеканию и сканирующей емкостной микроскопии
• BS ISO 22493:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
• VDI 3866 BLATT 5-2017 Определение асбеста в технических изделиях — метод сканирующей электронной микроскопии.
• AWWA ACE56156 Оценка характера загрязнения поверхности мембран с помощью планшетного сканера и сканирующего электронного микроскопа
• 06/30128226 DC ISO 22493. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
• VDI 3866 BLATT 5-2017 Определение асбеста в технических изделиях — метод сканирующей электронной микроскопии.

RU-GOST R, электронный микроскоп сканирует вместе

• GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
• GOST 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Метод проверки
• GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, электронный микроскоп сканирует вместе

• JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
• JJF 1351-2012 Спецификация калибровки для сканирующих зондовых микроскопов

Professional Standard - Machinery, электронный микроскоп сканирует вместе

• JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
• JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация

Professional Standard - Commodity Inspection, электронный микроскоп сканирует вместе

• SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
• SN/T 3009-2011 Идентификация коррозии морской водой на металлической поверхности с помощью СЭМ

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, электронный микроскоп сканирует вместе

• JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
• JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа

American Society for Testing and Materials (ASTM), электронный микроскоп сканирует вместе

• ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E2382-04(2020) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
• ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
• ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E986-04(2024) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
• ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, электронный микроскоп сканирует вместе

• GB/T 16594-1996 Измерение длины в микронах с помощью SEM
• GB/T 17722-1999 Измерение толщины позолоченного покрытия с помощью SEM
• GB/T 20307-2006 Общие правила измерения длины в нанометровом масштабе с помощью SEM
• GB/T 16594-2008 Общие правила измерения длины в микронном масштабе с помощью СЭМ
• GB/T 31563-2015 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
• GB/T 17362-2008 Метод рентгеноэнергетического спектрального анализа золотых изделий на сканирующем электронном микроскопе
• GB/T 17362-1998 Неразрушающий метод рентгеновского ЭДС анализа с помощью СЭМ для золотых ювелирных изделий

Group Standards of the People's Republic of China, электронный микроскоп сканирует вместе

• T/SPSTS 032-2023 Общие технические условия на сканирующую электрохимическую микроскопию
• T/CSTM 00795-2022 Материалы экспериментальных данных. Требования к изображениям сканирующего электронного микроскопа.
• T/CSTM 00229-2020 Идентификация графеновых материалов в материалах покрытий методом сканирующего электронного микроскопа-энергодисперсионного спектрометра

British Standards Institution (BSI), электронный микроскоп сканирует вместе

• 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)

GSO, электронный микроскоп сканирует вместе

• BH GSO ISO 22493:2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
• GSO ISO 22493:2015 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, электронный микроскоп сканирует вместе

• GJB 2666-1996 Спецификация для сканирования отражающих бериллиевых зеркал
• GJB 2666A-2018 Спецификация для сканирования отражающих бериллиевых зеркал

Association of German Mechanical Engineers, электронный микроскоп сканирует вместе

• VDI 3866 Blatt 5-2004 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии

KR-KS, электронный микроскоп сканирует вместе

• KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.

Professional Standard - Education, электронный микроскоп сканирует вместе

• JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
• JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會, электронный микроскоп сканирует вместе

• GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, электронный микроскоп сканирует вместе

• DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

國家能源局, электронный микроскоп сканирует вместе

• SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Professional Standard - Petroleum, электронный микроскоп сканирует вместе

• SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
• SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
• SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, электронный микроскоп сканирует вместе

• VDI 3866 BLATT 5-2015 Лучшая иммунизация асбеста в технических продуктах - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
• VDI 3866 Blatt 5-2003 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии

Другие:   СЭМ, Увеличение СЭМ, электронный микроскоп сканирует вместе, Электрон для СЭМ, Использование СЭМ, СЭМ-анализ, Метод определения сканирующего электронного микроскопа, Преимущества СЭМ, В настоящее время сканирующая электронная микроскопия, СЭМ вместе, Оригинальный сканирующий электронный микроскоп, Параметры СЭМ, СЭМ частиц, Среда SEM, Экологическое СЭМ, в сканирующем электронном микроскопе, Специальность сканирующий электронный микроскоп, СЭМ-обнаружение, метод СЭМ, Сканирующий электронный микроскоп за рубежом.