ZH
EN
KR
JP
ES
DEМетод определения сканирующего электронного микроскопа
Метод определения сканирующего электронного микроскопа, Всего: 139 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Метод определения сканирующего электронного микроскопа, являются: Линейные и угловые измерения, Оптическое оборудование, Качество воздуха, Аналитическая химия, Цветные металлы, Образование, Краски и лаки, Текстильные волокна, Обработка поверхности и покрытие, Оптика и оптические измерения, Словари, Испытание металлов, Изделия из железа и стали, Строительные материалы, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Защита от преступности, Термодинамика и измерения температуры.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- GB/T 16594-1996 Измерение длины в микронах с помощью SEM
- GB/T 17722-1999 Измерение толщины позолоченного покрытия с помощью SEM
- GB/T 16594-2008 Общие правила измерения длины в микронном масштабе с помощью СЭМ
- GB/T 20307-2006 Общие правила измерения длины в нанометровом масштабе с помощью SEM
- GB/T 25189-2010 Микролучевой анализ. Метод определения параметров количественного анализа SEM-EDS.
- GB/T 36422-2018 Искусственное волокно. Метод испытания микроморфологии и диаметра. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- GB/T 31563-2015 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- GB/T 29190-2012 Методы измерения скорости дрейфа сканирующего зондового микроскопа
- GB/T 17362-2008 Метод рентгеноэнергетического спектрального анализа золотых изделий на сканирующем электронном микроскопе
- GB/T 17362-1998 Неразрушающий метод рентгеновского ЭДС анализа с помощью СЭМ для золотых ювелирных изделий
- GB/T 30834-2022 Рейтинг и классификация включений в стали — метод растрового электронного микроскопа.
- GB/T 30834-2014 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали. Сканирующий электронный микроскоп.
- GB/T 14593-2008 Метод количественного анализа кашемира, шерсти и их смесей. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа
- GB/T 28873-2012 Общее руководство по сканирующей электронной микроскопии окружающей среды для определения биологических эффектов на топографию, вызванных наночастицами
International Organization for Standardization (ISO), Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
- ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
- ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
- ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- ISO 14966:2019 Воздух окружающий. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
- ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- GJB 737.11-1993 Методы испытаний пиротехнических химикатов. Определение размера частиц. Сканирующая электронная микроскопия.
Association of German Mechanical Engineers, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- VDI 3866 Blatt 5-2004 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии
SCC, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- VDI 3866 BLATT 5-2017 Определение асбеста в технических изделиях — метод сканирующей электронной микроскопии.
- VDI 3866 BLATT 5-2017 Определение асбеста в технических изделиях — метод сканирующей электронной микроскопии.
- 13/30203227 DC BS ISO 13083. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты по определению и калибровке пространственного разрешения сканирующей микроскопии сопротивления растеканию и сканирующей емкостной микроскопии
- BS EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
- DANSK DS/ISO 9220:2022 Металлические покрытия – Измерение толщины покрытия – Метод сканирующего электронного микроскопа
- VDI 3861 BLATT 2-2008 Измерение выбросов. Измерение неорганических волокнистых частиц в потоке чистого газа. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- AENOR UNE-EN ISO 9220:1996 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)
- DANSK DS/EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- BS ISO 22493:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
- AWWA ACE56156 Оценка характера загрязнения поверхности мембран с помощью планшетного сканера и сканирующего электронного микроскопа
Professional Standard - Machinery, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
- JB/T 7503-1994 Толщина поперечного сечения металлических покрытий Метод измерения сканирующим электронным микроскопом
- JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
Professional Standard - Commodity Inspection, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
- SN/T 3009-2011 Идентификация коррозии морской водой на металлической поверхности с помощью СЭМ
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- GB/T 38783-2020 Способ определения толщины покрытия композитов благородных металлов с помощью сканирующего электронного микроскопа
工業(yè)和信息化部, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- YS/T 1491-2021 Способ определения сферичности порошка жаропрочных сплавов на основе никеля методом сканирующей электронной микроскопии
- SJ/T 11759-2020 Измерение соотношения сторон линии электродной сетки фотоэлектрического элемента Лазерная сканирующая конфокальная микроскопия
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Метод определения сканирующего электронного микроскопа
Professional Standard - Education, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
- JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии
- JY/T 0582-2020 Общие правила проведения аналитических методов сканирующей зондовой микроскопии
- JY/T 0586-2020 Общие правила аналитических методов лазерной сканирующей конфокальной микроскопии
VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- VDI 3866 Blatt 5-2003 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии
- VDI 3866 BLATT 5-2015 Лучшая иммунизация асбеста в технических продуктах - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
- VDI 3861 Blatt 2-2006 Измерение выбросов. Измерение неорганических волокнистых частиц в потоке чистого газа. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- VDI 3877 Blatt 1-2009 Загрязнение воздуха внутри помещений. Измерение осевшей пыли на поверхностях. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- VDI/VDE 2656 Blatt 1-2006 Bestimmung geometrischer Messgroessen mit Rastersondermikroskopen - Kalibrierung von Messsystemen
Group Standards of the People's Republic of China, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- T/CSTM 00229-2020 Идентификация графеновых материалов в материалах покрытий методом сканирующего электронного микроскопа-энергодисперсионного спектрометра
- T/GAIA 017-2022 Определение содержания фтора в поверхностном покрытии алюминия и алюминиевых сплавов методом растрового электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
- T/CNIA 0161-2023 Способ исследования микроструктуры и морфологии деформированного алюминия и алюминиевых сплавов. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- T/NLIA 004-2021 Метод испытания на растяжение SEM на месте для алюминиевого сплава, полученного аддитивным способом
- T/SPSTS 030-2023 Измерение размера листа графенового материала с помощью сканирующей электронной микроскопии
- T/SPSTS 032-2023 Общие технические условия на сканирующую электрохимическую микроскопию
- T/QGCML 1940-2023 Устройство для высокотемпературных механических испытаний сканирующего электронного микроскопа in-situ
Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- GJB 5891.6-2006 Метод испытания загрузки материала для инициирования взрывного устройства Часть 6. Измерение размера зерна Сканирующая электронная микроскопия
American Society for Testing and Materials (ASTM), Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2142-01 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2142-08(2015) Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2142-08(2023) Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
- JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа
Professional Standard - Petroleum, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
- SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
Spanish Association for Standardization (UNE), Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
- UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
國(guó)家能源局, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
RU-GOST R, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- GOST 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Метод проверки
- GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
- GOST R 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы проверки
- GOST 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
- GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
SE-SIS, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- DB44/T 1527-2015 Микролучевой анализ Метод оценки четкости изображения сканирующего электронного микроскопа
Association Francaise de Normalisation, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
German Institute for Standardization, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
- DIN EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021); Немецкая и английская версия prEN ISO 9220:2021.
Danish Standards Foundation, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
GOST, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- GOST R ISO 14966-2022 Атмосферный воздух. Определение концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
British Standards Institution (BSI), Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
- BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
- BS ISO 14966:2019 Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
- BS ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- 18/30375050 DC BS ISO 14966. Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
American National Standards Institute （ANSI), Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- ANSI/ASTM D6059:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом сканирующей электронной микроскопии
GSO, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- GSO ISO 9220:2013 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- OS GSO ISO/TS 24597:2013 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
- GSO ISO/TS 24597:2013 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
- BH GSO ISO 22493:2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- GSO ISO 22493:2015 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- BH GSO ISO 11775:2022 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- DB35/T 110-2000 Электронный зонд и сканирующий электронный микроскоп. Метод рентгеновского энергетического спектрального анализа для обнаружения красочных вещественных доказательств.
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
European Committee for Standardization (CEN), Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
- prEN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)
Semiconductor Equipment and Materials International (SEMI), Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- SEMI F73-0309-2009 МЕТОД ИСПЫТАНИЙ ДЛЯ ОЦЕНКИ СОСТОЯНИЯ СМАЧИВАЕМОЙ ПОВЕРХНОСТИ КОМПОНЕНТОВ ИЗ НЕРЖАВЕЮЩЕЙ СТАЛИ С СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ (СЭМ)
Lithuanian Standards Office , Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)
Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- DB32/T 3459-2018 Сканирующая электронная микроскопия для измерения микроплощади покрытия графеновых пленок
AT-ON, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- OENORM EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)
Professional Standard - Judicatory, Метод определения сканирующего электронного микроскопа
- SF/T 0139-2023 Исследование почвы сканирующим электронным микроскопом/рентгеновской энергетической спектрометрией
KR-KS, Метод определения сканирующего электронного микроскопа