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電子顕微鏡校正ブロック

電子顕微鏡校正ブロックは全部で 45 項標準に関連している。

電子顕微鏡校正ブロック 國際標準分類において、これらの分類：計測學と測定の総合、 光學機器、 オプトエレクトロニクス、レーザー裝置、 長さと角度の測定、 光學および光學測定、 分析化學、 地質學、気象學、水文學。

Group Standards of the People's Republic of China, 電子顕微鏡校正ブロック

• T/CSTM 00162-2020 透過型電子顕微鏡の校正方法

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 電子顕微鏡校正ブロック

• JJF 1916-2021 走査型電子顕微鏡の校正仕様
• JJF 1092-2002 光斷面顕微鏡校正仕様書
• JJF 1402-2013 生物顕微鏡校正仕様書
• JJF 1914-2021 金屬顕微鏡の校正仕様
• JJF 1351-2012 走査型プローブ顕微鏡の校正仕様
• JJF(機械)1066-2021 超音波顕微鏡の性能校正仕様書
• JJF(機械) 1066-2021 超音波顕微鏡の性能校正仕様書

American Society for Testing and Materials (ASTM), 電子顕微鏡校正ブロック

• ASTM E766-98(2003) 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
• ASTM E766-98 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
• ASTM E766-14 走査型電子顕微鏡の倍率校正の標準方法
• ASTM E766-98(2008)e1 走査型電子顕微鏡の倍率の標準校正仕様
• ASTM E766-14(2019) 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法
• ASTM E766-14e1 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 電子顕微鏡校正ブロック

• DB31/T 315-2004 透過型電子顕微鏡の倍率校正方法
• DB31/T 297-2003 走査型電子顕微鏡の倍率校正方法

British Standards Institution (BSI), 電子顕微鏡校正ブロック

• BS ISO 16700:2004 微小電子線分析、走査型電子顕微鏡、畫像倍率校正ガイド。
• BS ISO 19012-2:2013 顕微鏡.顕微鏡対物レンズ名.色補正
• BS ISO 19012-2:2010 顕微鏡 顕微鏡対物レンズ名 色補正
• BS ISO 16700:2016 マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の畫像倍率を校正するためのガイド
• BS ISO 25498:2018 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
• BS ISO 24639:2022 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 電子エネルギー損失分光法 元素分析用のエネルギースケールの校正手順
• 24/30479937 DC BS ISO 25498 マイクロビーム分析 - 分析電子顕微鏡法 - 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 電子顕微鏡校正ブロック

• KS D ISO 16700:2013 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された畫像倍率のガイド。
• KS D ISO 16700-2013(2018) マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 畫像倍率校正ガイド

International Organization for Standardization (ISO), 電子顕微鏡校正ブロック

• ISO 16700:2016 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された畫像倍率のガイド。
• ISO 16700:2004 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された畫像倍率のガイド。
• ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別
• ISO/DIS 25498:2024 マイクロビーム解析-分析電子顕微鏡-透過型電子顕微鏡による制限視野電子回折解析
• ISO/CD 25498:2023 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析

Association Francaise de Normalisation, 電子顕微鏡校正ブロック

• NF X21-005:2006 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された畫像倍率のガイド。

KR-KS, 電子顕微鏡校正ブロック

• KS D ISO 16700-2023 マイクロビーム分析用走査型電子顕微鏡畫像倍率校正ガイド

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 電子顕微鏡校正ブロック

• JIS K 0149-1:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された畫像倍率のガイド。
• JIS K 0132:1997 走査型電子顕微鏡の一般原理

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電子顕微鏡校正ブロック

• GB/T 43846.2-2024 顕微鏡対物レンズの命名法 パート2: 色収差の補正

RU-GOST R, 電子顕微鏡校正ブロック

• GOST R 8.636-2007 國家測定均一性保証制度 走査型電子顕微鏡 校正方法

Professional Standard - Machinery, 電子顕微鏡校正ブロック

• JB/T 5480-1991 電子顕微鏡用絞り
• JB/T 5481-1991 電子顕微鏡用フィラメント

SCC, 電子顕微鏡校正ブロック

• BS ISO 19012-2:2009 光學とフォトニクス。 顕微鏡対物レンズの指定 - 色補正
• 13/30203227 DC BS ISO 13083。 表面化學分析。 走査型プローブ顕微鏡。 走査型広がり抵抗顕微鏡および走査型靜電容量顕微鏡の空間分解能の定義と較正に関する標準

GSO, 電子顕微鏡校正ブロック

• OS GSO ISO 25498:2015 マイクロビーム解析 -- 分析電子顕微鏡法 -- 透過型電子顕微鏡を用いた制限視野電子回折分析
• GSO ISO 24639:2024 マイクロビーム分析 — 分析電子顕微鏡 — 電子エネルギー損失分光法による元素分析のためのエネルギースケールの校正手順
• BH GSO ISO 25498:2017 マイクロビーム解析 -- 分析電子顕微鏡法 -- 透過型電子顕微鏡を用いた制限視野電子回折分析
• GSO ISO 25498:2015 マイクロビーム解析 -- 分析電子顕微鏡法 -- 透過型電子顕微鏡を用いた制限視野電子回折分析

Professional Standard - Water Conservancy, 電子顕微鏡校正ブロック

• SL 144.1-2008 生物顕微鏡の校正方法

その他：   電子顕微鏡の校正, 走査電子顕微鏡校正標準, 走査型電子顕微鏡の校正方法, 電子顕微鏡の校正方法, 走査型電子顕微鏡を校正する方法, 電子顕微鏡の校正, 走査型電子顕微鏡の校正, 透過型電子顕微鏡の校正, XRFキャリブレーションブロック, 數十臺の電子顕微鏡, ブロック電子顕微鏡, 分光計校正サンプルブロック, 分光器標準ブロックの校正, スペクトルブロックの校正, ステップメーター校正ブロック, 電子顕微鏡の校正, 電子顕微鏡を校正する方法, 電子顕微鏡校正ブロック, 分光計校正ブロック, 數百ドルもする電子顕微鏡.