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分光計校正ブロック

分光計校正ブロックは全部で 296 項標準に関連している。

分光計校正ブロック 國際標準分類において、これらの分類：光ファイバー通信、 光學および光學測定、 電気通信特殊測定器、 計測學と測定の総合、 地質學、気象學、水文學、 分析化學、 語彙、 真空技術、 非破壊検査、 原子力工學、 電気、磁気、電気および磁気測定、 電燈および関連器具、 放射線測定、 包括的なテスト條件と手順、 石油およびガス産業の機器、 醫療機器、 振動、衝撃、振動の測定、 太陽工學、 粒度分析、スクリーニング、 塗料成分、 金屬材料試験、 光學機器。


European Committee for Standardization (CEN), 分光計校正ブロック

  • CEN EN 62129-2006 スペクトラムアナライザの校正
  • CEN EN 62129-2006_ スペクトラムアナライザの校正
  • prEN ISO 23547 放射性測定 ガンマ線放出放射性核種から校正されたガンマ線分光計の參照測定の標準仕様 (ISO 23547:2022)
  • prEN ISO 14577-3 rev 金屬材料の硬度と材料パラメータに関する計裝による押し込み試験 パート 3: 標準ブロックの校正

Association Francaise de Normalisation, 分光計校正ブロック

Danish Standards Foundation, 分光計校正ブロック

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 分光計校正ブロック

  • JIS C 6192:2008 スペクトラムアナライザの校正
  • JIS K 0165:2011 表面化學分析 中分解能スパイラル電子分光計 元素分析用のエネルギースケールの校正
  • JIS K 0166:2011 表面化學分析 高分解能スパイラル電子分光計 元素および化學狀態分析のためのエネルギースケールの校正

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 分光計校正ブロック

International Electrotechnical Commission (IEC), 分光計校正ブロック

  • IEC 62129:2006 スペクトラムアナライザの校正方法
  • IEC PAS 62129:2004 スペクトラムアナライザの校正
  • IEC 62129-1:2016 測定器の波長?校正 その1：分光分析裝置
  • IEC 61239:1993 核機器調査用のポータブルガンマ放射計および分光計の定義、要件、および校正
  • IEC 61744:2023 光ファイバ分散試験器の校正
  • IEC 61452:2021 核機器 ガンマ線放出放射性核種の放射能または放射率の測定 ゲルマニウムベースの分光計の校正と使用

British Standards Institution (BSI), 分光計校正ブロック

  • BS EN 62129-1:2016 波長校正?光周波數測定器、スペクトルアナライザ
  • BS EN 62129:2006 スペクトラムアナライザの校正
  • 18/30382086 DC BS EN 61452 核計裝 放射性核種のガンマ線放射率の測定 ゲルマニウム分光計の校正と使用
  • 20/30412413 DC BS EN IEC 61452 核計裝 放射性核種のガンマ線放射率の測定 ゲルマニウム分光計の校正と使用
  • 20/30425193 DC BS EN IEC 61744 光ファイバ分散試験器の校正
  • 21/30442040 DC BS EN IEC 61744 光ファイバ分散試験器の校正
  • BS IEC 61452:2021 核機器 ガンマ線放射性核種の放射能または放射率の測定 ゲルマニウムベースの分光計の校正と使用
  • BS EN 62129-2:2011 波長/光周波數測定器の校正 マイケルソン干渉計 単波長計
  • BS ISO 17973:2003 表面化學分析 中分解能スパイラル電子分光計 元素分析用のエネルギースケールの校正
  • BS PD IEC/TS 62129-3:2014 波長?光周波數測定器の校正 光周波數コムを使用した光周波數計
  • BS EN ISO 16946:2015 非破壊検査?超音波検査用ステップウェッジ校正ブロック仕様
  • BS ISO 4037-3:1999 線量計と線量率計、および光子エネルギー応答を決定するための X およびガンマ標準放射線の校正 サイト線量計と個人線量計の校正と、それらのエネルギー応答と角度応答の決定
  • BS ISO 17974:2002 表面化學分析 高分解能スパイラル電子分光計 元素および化學狀態分析のためのエネルギースケールの校正

Lithuanian Standards Office , 分光計校正ブロック

  • LST EN 62129-2006 光スペクトラムアナライザの校正 (IEC 62129:2006)
  • LST EN 62129-2006/AC-2007 光スペクトラムアナライザの校正 (IEC 62129:2006)
  • LST EN 61744-2006 光ファイバー分散テスターの校正 (IEC 61744:2005)
  • LST IEC 61239:2008 核機器探査用のポータブルガンマ線放射計および分光計の定義、要件および校正 (IEC 61239:1993、同)

Group Standards of the People's Republic of China, 分光計校正ブロック

IEC - International Electrotechnical Commission, 分光計校正ブロック

  • PAS 62129-2004 スペクトル アナライザの校正 (バージョン 1.0; :2006)
  • TS 62129-3-2014 波長?光周波數測定器の校正 その3 光周波數コムを用いた光周波數計（バージョン1.0）

中國氣象局, 分光計校正ブロック

American Society for Testing and Materials (ASTM), 分光計校正ブロック

  • ASTM E1840-96(2022) 分光計校正用ラマンシフト標準の標準ガイド
  • ASTM E2911-23 ラマン分光計の相対強度校正のための標準ガイド
  • ASTM E2911-13 ラマン分光計の相対強度校正のための標準ガイド
  • ASTM E1840-96(2002) 分光計校正用ラマンシフト標準の標準ガイド
  • ASTM E3029-15(2023) 蛍光分光計の発光信號の相対スペクトル補正係數を決定するための標準的な手法
  • ASTM G138-96 標準放射線源を使用して分光放射計を校正するための標準試験方法
  • ASTM E3029-15 蛍光分光計の発光信號の相対スペクトル補正係數を決定するための標準的な手法
  • ASTM E2719-09(2022) 蛍光裝置の校正および認定標準ガイド
  • ASTM E2719-09 蛍光裝置の校正および認定標準ガイド
  • ASTM E2040-19 熱重量分析裝置の質量分析校正のための標準試験方法
  • ASTM E2719-09(2014) 蛍光機器の校正と認定のための標準ガイド
  • ASTM E388-04(2015) 蛍光分光計の波長精度とスペクトル帯域幅の標準試験方法
  • ASTM G138-12 標準光源を使用した分光放射計の校正のための標準試験方法
  • ASTM E2056-04(2010) サロゲート混合物を使用して校正された多変量解析における認定された分光計および分光光度計の標準的な実踐
  • ASTM E2056-04(2016) サロゲート混合物を使用して校正された多変量解析における認定された分光計および分光光度計の標準的な実踐
  • ASTM E388-04(2023) 蛍光分光計の波長精度とスペクトル帯域幅の標準試験方法
  • ASTM E1507-98 発光分光計の説明と仕様に関する標準ガイド
  • ASTM E2735-14 線光電子分光法 40;XPS 41 テストに必要なキャリブレーションを選択するための標準ガイド
  • ASTM E2735-13 X線光電子分光法（XPS）実験に必要なキャリブレーションを選択するための標準ガイド
  • ASTM E1866-97 分光計性能試験の標準ガイドラインの確立
  • ASTM E1683-02(2014)e1 走査型ラマン分光計の性能に関する標準的な手法
  • ASTM E1866-97(2002) 分光計性能試験の標準ガイドラインの確立
  • ASTM E1866-97(2007) 分光計性能試験の標準ガイドラインの確立
  • ASTM G138-12(2020)e1 標準放射源を使用した分光放射計の校正のための標準試験方法
  • ASTM E1125-10 表にまとめられたスペクトルを使用した一次非集光型太陽電池標準セルの校正のための標準試験方法
  • ASTM E2529-06(2022) ラマン分光計の分解能テストの標準ガイド
  • ASTM E2529-06e1 ラマン分光計の分解能をテストするための標準ガイド
  • ASTM E2108-05 X線光電分光計の電子結合エネルギースケールの校正の標準的な手法
  • ASTM E2735-14(2020) X線光電子分光法に必要なキャリブレーションを選択するための標準ガイド
  • ASTM E1217-11 X線光電子分光器およびオージェ電子分光器を使用して、検出信號に影響を與えるサンプルの領域を決定するための標準的な操作手順
  • ASTM E925-09(2022) スペクトル帯域幅が 2 nm を超えない紫外可視分光光度計の校正を監視するための標準的な方法
  • ASTM E958-13 紫外可視分光光度計のスペクトル帯域幅を評価するための標準的な手法
  • ASTM E1458-92 フォトマスクネットを使用したレーザー回折粒子サイズ測定の校正検証のための標準試験方法
  • ASTM E1770-95 電熱原子吸光分析計の最適化のための標準的な手法
  • ASTM E1770-95(2006) 電熱原子吸光分析計の最適化のための標準的な手法
  • ASTM E1361-90(1999) X線分光分析における入射影響補正の標準ガイド
  • ASTM E1361-02(2021) X線分光分析における入射影響補正の標準ガイド
  • ASTM E996-04 オージェ電子分光計および X 線光電子分光法からのデータを報告するための標準的な方法
  • ASTM E996-10 オージェ電子分光計および X 線光電子分光法からのデータを報告するための標準的な方法
  • ASTM E1217-00 X線光電子分光計とオージェ電子分光計を使用した、検出信號に影響を與えるサンプル面積の決定の標準的な手法
  • ASTM E1217-05 X線光電子分光計とオージェ電子分光計を使用した、検出信號に影響を與えるサンプル面積の決定の標準的な手法
  • ASTM E1125-05 表にまとめたスペクトルを使用した一次非集光型太陽電池基準セルの校正のための標準試験方法
  • ASTM E2108-00 X線光電子分光計の電子結合エネルギースケール校正の標準操作手順
  • ASTM E1458-12 フォトマスクマスターを使用したレーザー回折粒度分布測定裝置の校正および検証のための標準試験方法
  • ASTM E925-83(1994)e1 スペクトルスリット幅が 2 nm を超えない紫外可視分光光度計の校正を監視するための標準的な方法
  • ASTM D5381-93(2014) 顔料およびフィラーの蛍光 X 線 (XR) 分光分析の標準ガイド
  • ASTM E1125-99 平面分光法を使用した一次非集光器地上設置型太陽光発電基準セルを校正するための標準試験方法
  • ASTM E1125-16 平面分光法を使用した一次非集光器地上設置型太陽光発電基準セルを校正するための標準試験方法
  • ASTM E2529-06(2014) ラマン分光計の分解能をテストするための標準ガイド
  • ASTM E2529-06 ラマン分光計の分解能をテストするための標準ガイド
  • ASTM E925-09 スペクトルスリット幅が 2 nm を超えない紫外可視分光光度計の校正モニタリングの標準的な方法
  • ASTM E925-02 スペクトルスリット幅が 2 nm を超えない紫外可視分光光度計の校正モニタリングの標準的な方法
  • ASTM E1622-94(1999)e1 波長分散型 X 線分光法におけるラインオーバーラップ補正の標準慣行 (2006 年に撤回)
  • ASTM E925-09(2014) スペクトルスリット幅が 2 nm を超えない可視紫外分光光度計の校正モニタリングの標準的な方法
  • ASTM E2056-00 多目的分析用のサロゲート混合物を使用した、認定された分光計および分光光度計の校正の標準的な手法
  • ASTM E1458-92(2001) フォトマスクマスターを使用したレーザー回折式粒度分布測定裝置の校正および検査の試験方法
  • ASTM E1458-12(2016) フォトマスクマスターを使用したレーザー回折式粒度分布測定裝置の校正および検査の試験方法

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 分光計校正ブロック

  • EN 62129-1:2016 波長?光周波數測定器の校正 その1：スペクトルアナライザ
  • EN 62129:2006 光スペクトラム アナライザの校正、2006 年 12 月の正誤表を組み込み
  • EN 61315:2006 光ファイバーパワーメーターの校正 IEC 61315-2005

ES-UNE, 分光計校正ブロック

ZA-SANS, 分光計校正ブロック

German Institute for Standardization, 分光計校正ブロック

  • DIN EN 62129:2007 光スペクトラムアナライザの校正 (IEC 62129-2006)
  • DIN EN 62129 Berichtigung 1:2008 光スペクトラム アナライザの校正 技術正誤表 DIN EN 62129-2007-01
  • DIN EN 62129-1:2016 波長/光周波數測定機器の校正 パート 1: スペクトル アナライザー (IEC 62129-1-2016)、ドイツ語版 EN 62129-1-2016
  • DIN EN 61744:2006-10 光ファイバー分散テスターの校正 (IEC 61744:2005)
  • DIN ISO 15472:2020-05 表面化學分析 - X 線光電子分光計 - エネルギースケール校正 (ISO 15472:2010)
  • DIN ISO 15472:2020 表面化學分析用 X 線光電子分光計のエネルギー標準の校正 (ISO 15472:2010)、英語テキスト
  • DIN EN IEC 61744:2021-07 光ファイバ分散試験器の校正 (IEC 86/569/CD:2020)
  • DIN IEC 61452:2023-02 核機器 ガンマ線放出放射性核種の放射能または放射率の測定 ゲルマニウムベースの分光計の校正と使用
  • DIN EN IEC 61744:2021 光ファイバー分散テスターの校正 (IEC 86/569/CD:2020)、英語テキスト
  • DIN EN IEC 61744:2023-12 光ファイバ分散試験器の校正 (IEC 61744:2023)、ドイツ語版 EN IEC 61744:2023
  • DIN EN 62129-2:2012-03 波長?光周波數測定器の校正 その2：マイケルソン干渉計単波長計
  • DIN EN ISO 14577-3:2003 金屬材料 硬度および材料パラメータの機器押し込み試験 パート 3: 硬度標準ブロックの校正

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 分光計校正ブロック

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 分光計校正ブロック

  • EN 61315:1997 光ファイバーパワーメーターの校正
  • EN 62129-2:2011 波長?光周波數測定器の校正 その2：マイケルソン干渉計単波長計

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 分光計校正ブロック

  • KS A 0083-2013 質量分析計のリーク検出器の校正
  • KS A 0083-2002 質量分析計のリーク検出器の校正
  • KS A 0083-2023 質量分析計のリーク検出器の校正
  • KS B ISO 3530-2002(2012) 真空技術 質量分析計 リークディテクタの校正
  • KS B ISO 3530:2002 真空技術 質量分析計リークディテクタの校正
  • KS B ISO 3530:2013 真空技術質量分析計リーク検出器の校正
  • KS C IEC 61744-2007(2017) 光ファイバ分散試験器の校正
  • KS C IEC 61452-2017(2022) 核計測機器、放射性核種のガンマ線放射率の測定、ゲルマニウム分光計の校正と使用
  • KS D ISO 15472:2003 表面化學分析、X線光電分光裝置、エネルギースケールの校正
  • KS B ISO 9342-2013(2018) 光學および光學機器のフォーカスメーターの校正用のテストレンズ
  • KS D ISO 17973-2011(2021) 表面化學分析 - 中分解能オージェ電子分光計 - 元素分析用のエネルギースケールの校正
  • KS D ISO 17973:2011 表面化學分析 中分解能スパイラル電子分光計 元素分析用のエネルギースケールの校正
  • KS C IEC 61452:2017 核計測「放射性核種のガンマ線放射率の測定」ゲルマニウムエネルギー分光計の校正と使用
  • KS A 0083-2013(2018) 質量分析計 (リーク型) 検出器のシステムを校正するための一般規則
  • KS D ISO 17974-2011(2021) 表面化學分析 - 高分解能オージェ電子分光計 - 元素および化學狀態分析のためのエネルギースケールの校正
  • KS B ISO 14577-3-2004(2009) 金屬材料の硬度と材料パラメータに関する計裝による押し込み試験 パート 3: 標準ブロックの校正
  • KS D ISO 17974:2011 表面化學分析 高分解能スパイラル電子分光計 元素および化學狀態分析のためのエネルギースケールの校正
  • KS B 0713-1-2012 振動センサーと衝撃センサーの校正方法 その 1: レーザー干渉計を使用した最初の振動校正
  • KS B ISO 14577-3:2004 金屬材料 硬度および材料パラメータの機器押し込み試験 パート 3: 硬度標準ブロックの校正
  • KS B ISO 14577-3:2017 金屬材料の硬さと材料パラメータの機器押し込み試験 第 3 部: 硬さ標準ブロックの校正

International Organization for Standardization (ISO), 分光計校正ブロック

  • ISO 3530:1979 真空技術質量分析計リーク検出器の校正
  • ISO 15472:2010 表面化學分析、X線光電子分光裝置、エネルギースケール校正
  • ISO 15472:2001 表面化學分析 X線光電子分光計のエネルギースケール校正
  • ISO 23547:2022 放射能測定 ガンマ線放射性核種 ガンマ線分光計の校正のための基準測定の標準仕様。
  • ISO 17973:2016 表面化學分析 中分解能スパイラル電子分光計 元素分析用のエネルギースケールの校正
  • ISO 17973:2002 表面化學分析 中分解能スパイラル電子分光計 元素分析用のエネルギースケールの校正
  • ISO 16946:2015 非破壊検査 超音波検査 ステップウェッジ校正ブロックの仕様
  • ISO 16946:2017 非破壊検査 超音波検査 ステップウェッジ校正ブロックの仕様
  • ISO/CD 5861 表面化學分析 X線光電子分光法 水晶単色AlKa XPS裝置強度校正法
  • ISO/DIS 5861:2023 表面化學分析 X線光電子分光法 水晶単色Al Kα XPS裝置強度校正法
  • ISO 13084:2018 表面化學分析 - 二次イオン質量分析 - 飛行時間型二次イオン質量分析計用の質量分析計の校正
  • ISO 17974:2002 表面化學分析 高分解能スパイラル電子分光計 元素および化學狀態分析のためのエネルギースケールの校正
  • ISO/TR 14999-3:2005 光學とフォトニクス 光學コンポーネントと光學システムの干渉測定 パート 3: 干渉テスト機器と測定の校正と検証
  • ISO 14577-3:2002 金屬材料 硬度および材料パラメータの機器押し込み試験 パート 3: 硬度標準ブロックの校正
  • ISO 14577-3:2015 金屬材料 硬度および材料パラメータの機器押し込み試験 パート 3: 硬度標準ブロックの校正

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 分光計校正ブロック

  • GB/T 18193-2000 真空技術 質量分析計 リークディテクタの校正
  • GB/T 22571-2008 表面化學分析 X線光電子分光裝置 エネルギースケールの校正
  • GB/T 20485.41-2015 振動および衝撃センサーの校正方法 第 41 部: レーザー振動計の校正
  • GB/T 36063-2018 ラマン分光法校正用のナノテクノロジー標準ラマン シフト曲線

Professional Standard - Public Safety Standards, 分光計校正ブロック

  • GA/T 1727-2020 ライトカーテンターゲット速度計の校正仕様

American National Standards Institute （ANSI), 分光計校正ブロック

Professional Standard - Petroleum, 分光計校正ブロック

  • SY/T 6812-2010 ナチュラルガンマスペクトルロギングツールの校正方法
  • SY/T 6679.2-2009 包括的な泥土検層器の校正方法 パート 2: 泥土検層ガスクロマトグラフ
  • SY 6679.2-2009 総合的な泥採取校正方法パート 2: 泥採取ガスクロマトグラフ

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 分光計校正ブロック

  • JJG 1001-2005 自動車ロービーム検出器キャリブレータ
  • JJG 417-1986 Eu 點ガンマ標準線源を使用したゲルマニウム ガンマ分光計の校正手順

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會, 分光計校正ブロック

  • GB/T 22571-2017 表面化學分析用X線光電子分光裝置のエネルギースケールの校正

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 分光計校正ブロック

  • DB44/T 1496.1-2014 LED試験器の校正方法その1：積分球スペクトル試験システム
  • DB44/T 1496.2-2016 LED 試験裝置の校正方法 パート 2: ゴニオ測光試験システム

KR-KS, 分光計校正ブロック

  • KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化學分析?X線光電子分光裝置?エネルギースケールの校正
  • KS C IEC 61452-2017 核機器 - 放射性核種のガンマ線放射率の測定 - ゲルマニウム分光計の校正と使用
  • KS B ISO 9342-2023 光學および光學機器のフォーカスメーターの校正用のテストレンズ
  • KS A 0083-2013(2023) 質量分析計（リーク型）検出器校正システムの一般規則

Professional Standard - Machinery, 分光計校正ブロック

  • JB/T 8428-1996 鋼溶接用の超音波検査裝置を校正するための標準テストブロック

Association of German Mechanical Engineers, 分光計校正ブロック

國家能源局, 分光計校正ブロック

  • SY/T 7324-2016 蛍光X線検層裝置の校正方法
  • SY/T 6679.2-2022 総合的な泥採取校正方法パート 2: 泥採取ガスクロマトグラフ

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 分光計校正ブロック

  • IEEE N42.14-1991 ゲルマニウム分光計を使用した放射性核種のガンマ線放射率の校正と測定

國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會, 分光計校正ブロック

  • GB/T 37984-2019 ラマン分光法校正用のナノテクノロジー周波數シフト補正値
  • GB/T 40129-2021 表面化學分析 二次イオン質量分析 飛行時間型二次イオン質量分析計 質量校正

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 分光計校正ブロック

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, 分光計校正ブロック

未注明發布機構, 分光計校正ブロック

  • GJB 8704-2015 デジタルレーザー平面干渉計の校正仕様

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 分光計校正ブロック

  • ANSI Std N42.14-1991 米國國家標準の校正とゲルマニウム分光計を使用した放射性核種のガンマ線放射率の測定
  • IEEE/ANSI N42.14-1999 ガンマ線放射率の放射性核種含有量測定のためのゲルマニウム分光計の校正方法と使用方法

CZ-CSN, 分光計校正ブロック

  • CSN 25 0271-1974 ロックウェル N および T スケール硬度計用の標準ブロック校正

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 分光計校正ブロック

  • GJB 8624-2015 大規模計測システム レーザートラッカー校正仕様

RO-ASRO, 分光計校正ブロック

  • STAS 7802/1-1979 校正ブロックは、探傷器の一般的な技術條件の品質を検証および調整します。

Professional Standard - Coal, 分光計校正ブロック

  • MT 424-1995 光干渉メタン検出器校正器の一般的な技術條件
  • MT/T 424-1995 光干渉メタン検出器校正器の一般的な技術條件

Professional Standard - Meteorology, 分光計校正ブロック

  • QX/T 271-2015 光減衰法 大気粒子吸収光度計の保守?校正サイクル

Standard Association of Australia （SAA）, 分光計校正ブロック

  • AS ISO 15472:2006 表面化學分析。 X線光電子分光法。 エネルギースケールの校正

BE-NBN, 分光計校正ブロック

  • NBN P 32-016-1977 亜鉛ブロック。 分光放射分析用サンプルの抽出と調製


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