GB/T 18907-2013
微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法
Microbeam analysis.Analytical electron microscopy.Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
GBT18907-2013, GB18907-2013
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- GB/T 18907-2013
- 別名
- GBT18907-2013, GB18907-2013
- 發(fā)布
- 2013年
- 總頁數(shù)
- 29頁
- 采用標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 25498:2010 IDT
- 發(fā)布單位
- 國家質(zhì)檢總局
- 當(dāng)前最新
- GB/T 18907-2013
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- ISO/IEC 17025
- 被代替標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 18907-2002
- 適用范圍
- 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用透射電子顯微鏡(TEM)對薄晶體試樣的微米和亞微米尺寸區(qū)域進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析的方法。被測試樣可以從各種金屬或非金屬材料的薄切片獲得,也可以采用細(xì)微的粉末或萃取復(fù)型試樣。應(yīng)用本方法可分析的最小試樣選區(qū)直徑取決于顯微鏡物鏡的球差系數(shù),對于現(xiàn)代TEM,試樣的最小選區(qū)直徑一般可達(dá)到0.5 μm。當(dāng)被分析試樣區(qū)的直徑小于0.5 μm時(shí)仍然可以參照本標(biāo)準(zhǔn)的分析方法,但是由于球差的影響,衍射譜上的部分信息有可能來源于由選區(qū)光闌限定的區(qū)域之外,在這種情況下,如條件允許,最好采用微(納)衍射或者會(huì)聚束電子衍射方法。選區(qū)電子衍射方法的成功應(yīng)用取決于對所獲得的衍射譜指數(shù)標(biāo)定正確與否,而不論試樣的哪個(gè)晶帶軸平行于入射電子束,因而,這樣的分析往往需要借助試樣的傾轉(zhuǎn)和旋轉(zhuǎn)裝置。本標(biāo)準(zhǔn)適用于從晶體試樣上獲取SAED譜、標(biāo)定衍射譜的指數(shù)以及校準(zhǔn)電鏡的衍射常數(shù)。