本標準規(guī)定了用透射電子顯微鏡(TEM)對薄晶體試樣的微米和亞微米尺寸區(qū)域進行選區(qū)電子衍射分析的方法。被測試樣可以從各種金屬或非金屬材料的薄切片獲得,也可以采用細微的粉末或萃取復型試樣。應用本方法可分析的最小試樣選區(qū)直徑取決于顯微鏡物鏡的球差系數(shù),對于現(xiàn)代TEM,試樣的最小選區(qū)直徑一般可達到0.5 μm。當被分析試樣區(qū)的直徑小于0.5 μm時仍然可以參照本標準...
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