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粒子徑を測(cè)定する

粒子徑を測(cè)定するは全部で 19 項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)に関連している。

粒子徑を測(cè)定する 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)において、これらの分類(lèi):。


German Institute for Standardization, 粒子徑を測(cè)定する

  • DIN EN ISO 21363:2022 ナノテクノロジー – 透過(guò)型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと粒子形狀分布の測(cè)定
  • DIN EN ISO 21363 E:2021-09 透過(guò)型電子顕微鏡によるナノテクノロジー粒子徑と形狀分布の測(cè)定(案)
  • DIN EN ISO 19749:2023-07 ナノテクノロジー - 走査型電子顕微鏡による粒子サイズと形狀分布の測(cè)定 (ISO 19749:2021)
  • DIN EN ISO 21363:2022-03 ナノテクノロジー - 透過(guò)型電子顕微鏡による粒子サイズと形狀分布の測(cè)定 (ISO 21363:2020)
  • DIN EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジー - 走査型電子顕微鏡による粒子サイズと形狀分布の測(cè)定 (ISO 19749:2021)

International Organization for Standardization (ISO), 粒子徑を測(cè)定する

  • ISO 19749:2021 ナノテクノロジー、走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形狀分布の測(cè)定

British Standards Institution (BSI), 粒子徑を測(cè)定する

  • BS ISO 19749:2021 ナノテクノロジーでは走査型電子顕微鏡を使用して粒子サイズと形狀分布を測(cè)定します
  • BS EN ISO 21363:2022 ナノテクノロジーは透過(guò)型電子顕微鏡により粒子サイズと形狀分布を測(cè)定します
  • BS EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形狀分布を測(cè)定します
  • BS ISO 21363:2020 ナノテクノロジーは透過(guò)型電子顕微鏡により粒子サイズと形狀分布を測(cè)定します
  • 18/30351679 DC BS ISO 19749 ナノテクノロジー 走査型電子顕微鏡による粒子サイズと形狀分布の測(cè)定
  • 18/30351714 DC BS ISO 21363 ナノテクノロジー 透過(guò)型電子顕微鏡による粒子サイズと形狀分布の測(cè)定

European Committee for Standardization (CEN), 粒子徑を測(cè)定する

  • EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジー、走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形狀分布の測(cè)定

KR-KS, 粒子徑を測(cè)定する

  • KS C ISO 19749-2023 ナノテクノロジー - 走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形狀分布の測(cè)定
  • KS C ISO 21363-2023 ナノテクノロジー - 透過(guò)型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形狀分布の測(cè)定

Spanish Association for Standardization (UNE), 粒子徑を測(cè)定する

  • UNE-EN ISO 21363:2022 ナノテクノロジーは透過(guò)型電子顕微鏡により粒子サイズと形狀分布を測(cè)定します
  • UNE-EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形狀分布を測(cè)定します

SCC, 粒子徑を測(cè)定する

  • DANSK DS/ISO 19749:2021 ナノテクノロジー – 走査型電子顕微鏡による粒子サイズと形狀分布の測(cè)定
  • DANSK DS/ISO 21363:2020 ナノテクノロジー – 透過(guò)型電子顕微鏡による粒子サイズと形狀分布の測(cè)定




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