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Espectrómetros de fotoelectrones de electrones y rayos X

Espectrómetros de fotoelectrones de electrones y rayos X, Total: 90 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Espectrómetros de fotoelectrones de electrones y rayos X son: Química analítica, Medidas lineales y angulares., Pruebas no destructivas, óptica y medidas ópticas., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Componentes electrónicos en general..


German Institute for Standardization, Espectrómetros de fotoelectrones de electrones y rayos X

  • DIN ISO 16129:2020-11 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
  • DIN ISO 16129:2020 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
  • DIN ISO 15472:2020-05 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
  • DIN ISO 15472:2020 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Espectrómetros de fotoelectrones de electrones y rayos X

  • GB/T 25184-2010 Método de verificación para espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
  • GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
  • GB/T 19500-2004 Reglas generales para el método de análisis espectroscópico de fotoelectrones de rayos X.
  • GB/T 22571-2008 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
  • GB/T 28632-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.
  • GB/T 28892-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
  • GB/T 28892-2024 Análisis químico de superficies Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X Expresión de parámetros de rendimiento del instrumento seleccionado
  • GB/T 30704-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.

British Standards Institution (BSI), Espectrómetros de fotoelectrones de electrones y rayos X

  • BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
  • BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
  • BS ISO 21270:2004(2010) Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
  • BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
  • BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
  • BS ISO 18516:2006(2010) Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.
  • BS ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • BS ISO 10810:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
  • BS ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
  • BS ISO 18516:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral

International Organization for Standardization (ISO), Espectrómetros de fotoelectrones de electrones y rayos X

  • ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
  • ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
  • ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
  • ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
  • ISO 10810:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
  • ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
  • ISO 18516:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral

GSO, Espectrómetros de fotoelectrones de electrones y rayos X

  • BH GSO ISO 16129:2015 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
  • OS GSO ISO 16129:2014 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
  • GSO ISO 21270:2014 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
  • BH GSO ISO 21270:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
  • OS GSO ISO 21270:2014 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
  • BH GSO ISO 15472:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • OS GSO ISO 18516:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
  • BH GSO ISO 18516:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
  • GSO ISO 18516:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
  • BH GSO ISO 19830:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
  • GSO ISO 19830:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
  • GSO ISO 10810:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
  • BH GSO ISO 10810:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
  • OS GSO ISO 10810:2013 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
  • OS GSO ISO 18554:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no intencionada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
  • GSO ISO 18554:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no intencionada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopia fotoelectrónica de rayos X

未注明發布機構, Espectrómetros de fotoelectrones de electrones y rayos X

  • DIN ISO 16129 E:2020-01 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
  • DIN ISO 15472 E:2019-09 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • AS ISO 15470:2006(R2016) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Espectrómetros de fotoelectrones de electrones y rayos X

  • KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies-Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger-Linealidad de escala de intensidad
  • KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies-Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger-Linealidad de escala de intensidad
  • KS D ISO 21270-2020 Análisis químico de superficies-Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger-Linealidad de escala de intensidad
  • KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies-Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X-Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • KS D ISO 15470-2020 Análisis químico de superficies-Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X-Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies-Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X-Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador

SCC, Espectrómetros de fotoelectrones de electrones y rayos X

  • 11/30230635 DC BS ISO 16129. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
  • DIN ISO 16129 E:2020 Borrador de documento - Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
  • BS ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de básculas de energía.
  • ISO 15472:2001/DAmd 1 Análisis químico de superficies. Espectrómetros fotoelectrónicos de rayos X. Calibración energética. Enmienda 1.
  • BS ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
  • BS PD ISO/TR 19319:2003 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral, el área de análisis y el área de muestra vistos por el analizador

American Society for Testing and Materials (ASTM), Espectrómetros de fotoelectrones de electrones y rayos X

  • ASTM E996-04 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E996-10 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E2108-16 Práctica estándar para la calibración de la escala de energía de unión de electrones de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E995-16 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
  • ASTM E996-10(2018) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E996-19 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E996-94(1999) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E902-94(1999) Práctica estándar para verificar las características operativas de los espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E1217-11 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la se?al detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E1217-11(2019) Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la se?al detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E1217-00 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la se?al detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E1217-05 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la se?al detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E995-11 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
  • ASTM E902-05 Práctica estándar para verificar las características operativas de los espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E2108-00 Práctica estándar para la calibración de la escala de energía de unión de electrones de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E1523-97 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E1523-15 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X

Professional Standard - Electron, Espectrómetros de fotoelectrones de electrones y rayos X

  • SJ/T 10714-1996 Práctica estándar para comprobar las características de funcionamiento de los espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
  • SJ/T 10458-1993 Guía estándar para el manejo de muestras en espectroscopia de electrones de barrena y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會, Espectrómetros de fotoelectrones de electrones y rayos X

  • GB/T 22571-2017 Análisis químico de superficies: espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.

KR-KS, Espectrómetros de fotoelectrones de electrones y rayos X

  • KS D ISO 15472-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Calibración de escala de energía

國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會, Espectrómetros de fotoelectrones de electrones y rayos X

  • GB/T 41073-2021 Análisis químico de superficies—Espectroscopias electrónicas—Requisitos mínimos de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

Standard Association of Australia (SAA), Espectrómetros de fotoelectrones de electrones y rayos X

  • AS ISO 15470:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • AS ISO 15472:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía

Association Francaise de Normalisation, Espectrómetros de fotoelectrones de electrones y rayos X

  • NF X21-061:2008 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral.
  • NF X21-071:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X - Directrices para el análisis.

Professional Standard - Machinery, Espectrómetros de fotoelectrones de electrones y rayos X

RU-GOST R, Espectrómetros de fotoelectrones de electrones y rayos X

  • GOST 22091.2-1984 Dispositivos de rayos X. Los métodos de medición de la corriente y el voltaje de inyección de betatrones de rayos X.
  • GOST 29025-1991 Pruebas no destructivas. Detectores de defectos de televisión por rayos X con transductores ópticos electrónicos de rayos X. Detectores de defectos radiográficos eléctricos. Requisitos técnicos generales




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