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misma ampliación

misma ampliación, Total: 33 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en misma ampliación son: Equipo óptico, Materiales de construcción, Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Sistemas de máquinas herramienta, Optoelectrónica. Equipo láser, Pruebas no destructivas, Circuitos integrados. Microelectrónica.

British Standards Institution (BSI), misma ampliación

• BS ISO 8039:2014 Cambios rastreados. Microscopios. Valores, tolerancias y símbolos de aumento.
• BS ISO 3058:1998 Ensayos no destructivos - Ayudas a la inspección visual - Selección de lupas de bajo consumo

GSO, misma ampliación

• OS GSO ISO 8039:2015 Microscopios: valores, tolerancias y símbolos de aumento.
• BH GSO ISO 8039:2016 Microscopios: valores, tolerancias y símbolos de aumento.
• GSO ISO 8039:2015 Microscopios: valores, tolerancias y símbolos de aumento.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), misma ampliación

• KS B ISO 8039-2021 Microscopios: valores, tolerancias y símbolos de aumento.
• KS B ISO 3058-2001(2021) Ensayos no destructivos－Ayudas para la inspección visual－Selección de lupas de baja potencia
• KS B ISO 3058:2001 Ensayos no destructivos-Ayudas a la inspección visual-Selección de lupas de bajo consumo

American Society for Testing and Materials (ASTM), misma ampliación

• ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
• ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
• ASTM E1951-02 Guía estándar para calibrar retículas y ampliaciones de microscopios ópticos
• ASTM E1951-14(2019) Guía estándar para calibrar retículas y ampliaciones de microscopios ópticos
• ASTM E1951-01 Guía estándar para calibrar retículas y ampliaciones de microscopios ópticos
• ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
• ASTM E1951-98 Guía estándar para calibrar retículas y ampliaciones de microscopios ópticos
• ASTM E766-14e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
• ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), misma ampliación

• JIS B 7254:2007 Microscopios - Ampliación

SCC, misma ampliación

• 11/30228188 DC BS ISO 8039. Microscopios. Valores, tolerancias y símbolos de aumento.
• BS 7012-1:1990 Microscopios ópticos: especificación para el poder de aumento de los componentes de imágenes de microscopios.
• MIL MIL-K-83525-1985 KIT, MICROSCOPIO óPTICO PORTáTIL, MILITARIZADO, AUMENTO 200X PARA INSPECCIóN DE CAMPO DE FIBRAS óPTICAS (SIN DOCUMENTO S/S)
• MIL MIL-M-83524-1985 MICROSCOPIO, óPTICO, MONOCULAR, DE MANO, PORTáTIL, MILITARIZADO, AUMENTO 200X, PARA INSPECCIóN DE CAMPO DE FIBRAS óPTICAS (SIN DOCUMENTO S/S)

DIN, misma ampliación

• DIN ISO 8039:2001 óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Ampliación (ISO 8039:1997)

Military Standards (MIL-STD), misma ampliación

• DOD A-A-53545-1988 LUPA PLEGABLE DOBLE LENTE

Defense Logistics Agency, misma ampliación

• DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 2-2001 MICROSCOPIO óPTICO: MONOCULAR, ENFOQUE FIJO, TIPO BOLSILLO, AUMENTO ENTRE 40X Y 60X
• DLA A-A-50207 A-1988 MICROSCOPIO óPTICO: MONOCULAR, ENFOQUE FIJO, TIPO BOLSILLO, AUMENTO ENTRE 40X Y 60X
• DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 1-1993 MICROSCOPIO óPTICO: MONOCULAR, ENFOQUE FIJO, TIPO BOLSILLO, AUMENTO ENTRE 40X Y 60X
• DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 3-2006 MICROSCOPIO óPTICO: MONOCULAR, ENFOQUE FIJO, TIPO BOLSILLO, AUMENTO ENTRE 40X Y 60X
• DLA SMD-5962-89438 REV A-2004 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY AVANZADO, TTL, REGISTRO NO INVERSOR 10, SILICIO MONOLíTICO

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, misma ampliación

• ESDU 87004 B-2000 Cálculo del aumento del arrastre de excrecencia debido a gradientes de presión a altas velocidades subsónicas.

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, misma ampliación

• DB31/T 315-2004 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de transmisión.
• DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.

TR-TSE, misma ampliación

• TS 2399-1976 PRUEBAS NO DESTRUCTIVAS - A?DS A LA INSPECCIóN VISUAL - SELECCIóN DE LUPAS DE BAJA POTENCIA

Otros:   misma ampliación, Ampliar por el mismo factor, Ampliación del microscopio electrónico de barrido, aumento del microscopio electrónico, Misma ampliación, aumento del microscopio, aumento de microscopio, magnificado, aumento del microscopio electrónico, Ampliación del microscopio óptico., El aumento total del microscopio., aumento del microscopio, aumento del microscopio.