ZH
EN
KR
JP
RU
DE

Método de detección por microscopía electrónica de barrido.

Método de detección por microscopía electrónica de barrido., Total: 11 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Método de detección por microscopía electrónica de barrido. son: óptica y medidas ópticas., Medidas lineales y angulares., Equipo óptico, pruebas de metales, Química analítica, Educación.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Método de detección por microscopía electrónica de barrido.

• GB/T 28873-2012 Guía general de microscopía electrónica de barrido ambiental para efectos biológicos sobre topografía inducidos por nanopartículas.
• GB/T 16594-1996 Medición de longitud de grado en micras por SEM
• GB/T 17722-1999 Medición de espesor chapado en oro por SEM
• GB/T 16594-2008 Reglas generales para la medición de longitud en escala de micras mediante SEM
• GB/T 20307-2006 Reglas generales para la medición de longitud a escala nanométrica mediante SEM

Professional Standard - Public Safety Standards, Método de detección por microscopía electrónica de barrido.

• GA/T 1937-2021 Ciencia forense Inspección de caucho Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X

Professional Standard - Machinery, Método de detección por microscopía electrónica de barrido.

• JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Método de detección por microscopía electrónica de barrido.

• JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido

Group Standards of the People's Republic of China, Método de detección por microscopía electrónica de barrido.

• T/CNIA 0161-2023 Método para inspeccionar la microestructura y morfología de aluminio deformado y aleaciones de aluminio. Método de microscopía electrónica de barrido.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Método de detección por microscopía electrónica de barrido.

• KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.

Professional Standard - Education, Método de detección por microscopía electrónica de barrido.

• JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.

Otros:   Microscopía electrónica de barrido, ?Qué detecta principalmente un microscopio electrónico de barrido?, método SEM, Detección del espectro de energía por microscopía electrónica de barrido., Método de detección por microscopía electrónica de barrido., ?Qué puede detectar un microscopio electrónico de barrido?, ?Qué detecta la microscopía electrónica de barrido?, Microscopía electrónica de barrido, Método de medición por microscopía electrónica de barrido., Bases de la prueba de microscopía electrónica de barrido., Método de análisis por microscopía electrónica de barrido., método SEM, ?Qué puede detectar un microscopio electrónico de barrido?, Microscopio electrónico de barrido de detección, Microscopía electrónica de barrido x, ?Qué puede detectar un microscopio electrónico de barrido?, Análisis de microscopía electrónica de barrido., Cómo detectar el microscopio electrónico de barrido., Detección por microscopio electrónico de barrido., Método de microscopía electrónica de barrido..