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Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

Für die Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich? gibt es insgesamt 61 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich? die folgenden Kategorien: analytische Chemie, Kriminalpr?vention, L?ngen- und Winkelmessungen, Oberfl?chenbehandlung und Beschichtung, Optische Ausrüstung, Luftqualit?t, Baumaterial, Prüfung von Metallmaterialien, Thermodynamik und Temperaturmessung, Optik und optische Messungen, Farben und Lacke, Textilfaser, Nichteisenmetalle.


National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

International Organization for Standardization (ISO), Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
  • ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
  • ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildsch?rfe
  • ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
  • ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode

Group Standards of the People's Republic of China, Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • T/CSTM 00795-2022 Materialexperimentelle Daten – Anforderungen für Rasterelektronenmikroskopbilder
  • T/CNIA 0161-2023 Methode zur Untersuchung der Mikrostruktur und Morphologie von verformtem Aluminium und Aluminiumlegierungen. Rasterelektronenmikroskopie-Methode
  • T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfger?t
  • T/CSTM 00229-2020 Identifizierung von Graphenmaterialien in Beschichtungsmaterialien Rasterelektronenmikroskop-Energiedispersionsspektrometer-Methode
  • T/SPSTS 030-2023 Messung der Blattgr??e von Graphenmaterial mittels Rasterelektronenmikroskopie

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • DB32/T 4546-2023 Technische Spezifikationen für die automatisierte Inspektion von Diatomeenbildern mittels Rasterelektronenmikroskopen
  • DB32/T 3459-2018 Rasterelektronenmikroskopie zur Messung der Mikrofl?chenbedeckung von Graphenfilmen

Professional Standard - Judicatory, Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • SF/T 0139-2023 Bodeninspektion Rasterelektronenmikroskop/R?ntgenenergiespektrometrie

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • GB/T 16594-1996 L?ngenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
  • GB/T 31563-2015 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskop-Methode
  • GB/T 17722-1999 Vergoldete Dickenmessung mittels REM
  • GB/T 16594-2008 Allgemeine Regeln für die L?ngenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
  • GB/T 20307-2006 Allgemeine Regeln für die L?ngenmessung im Nanometerbereich mittels REM
  • GB/T 28873-2012 Allgemeiner Leitfaden zur Umwelt-Rasterelektronenmikroskopie für biologische Effekte auf die Topographie, die durch Nanopartikel hervorgerufen werden
  • GB/T 36422-2018 Chemiefaser.Testmethode für Mikromorphologie und Durchmesser.Rasterelektronenmikroskop-Methode

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • DB35/T 110-2000 Elektronensonden- und Rasterelektronenmikroskop-R?ntgenenergiespektrum-Analyseverfahren zur Erkennung physischer Farbspuren

Association of German Mechanical Engineers, Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • VDI 3866 Blatt 5-2004 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode

SCC, Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • VDI 3866 BLATT 5-2017 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
  • VDI 3866 BLATT 5-2017 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
  • DANSK DS/ISO 9220:2022 Metallische Schichten – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
  • BS EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
  • DANSK DS/EN ISO 9220:1994 Metallische überzüge - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskop-Verfahren

American Society for Testing and Materials (ASTM), Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • ASTM C1723-10 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • ASTM C1723-16(2022) Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • ASTM C1723-16 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie

Professional Standard - Aviation, Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • HB 20094.4-2012 Prüfverfahren zur Bestimmung von Verschlei?metallen in Betriebsflüssigkeiten für die Luftfahrt. Teil 4: Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersive Spektrometrie

Professional Standard - Public Safety Standards, Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • GA/T 1939-2021 Forensische Wissenschaft Aktuelle Stichprobenuntersuchung Rasterelektronenmikroskopie/R?ntgenspektroskopie
  • GA/T 1938-2021 Forensische Metallinspektion Rasterelektronenmikroskopie/R?ntgenspektroskopie
  • GA/T 1937-2021 Forensische Wissenschaft Gummiinspektion Rasterelektronenmikroskopie/R?ntgenspektroskopie
  • GA/T 1418-2017 Untersuchung der Elementzusammensetzung von forensischen Glasbeweisen, Rasterelektronenmikroskopie/Energiespektroskopie
  • GA/T 1522-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung von Schie?rückst?nden, Rasterelektronenmikroskopie/R?ntgenspektroskopie

GSO, Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • GSO ISO 9220:2013 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren

Professional Standard - Machinery, Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • JB/T 7503-1994 Dicke des Querschnitts von Metallbeschichtungen Rasterelektronenmikroskop-Messmethode

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • VDI 3866 BLATT 5-2015 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
  • VDI 3866 Blatt 5-2003 Determination of asbestos in technical products - Scanning electron microscopy method

British Standards Institution (BSI), Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
  • BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
  • BS ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • GJB 737.11-1993 Prüfmethoden für pyrotechnische Chemikalien Partikelgr??enbestimmung Rasterelektronenmikroskopie

Association Francaise de Normalisation, Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
  • NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
  • NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.

RU-GOST R, Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • GOST R 8.594-2009 Staatliches System zur Gew?hrleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
  • KS D ISO 9220-2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
  • KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
  • KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode

SE-SIS, Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode

Danish Standards Foundation, Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren

German Institute for Standardization, Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022

European Committee for Standardization (CEN), Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)

Spanish Association for Standardization (UNE), Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • GB/T 38783-2020 Methode zur Schichtdickenbestimmung für Edelmetallverbundwerkstoffe mittels Rasterelektronenmikroskop

工業(yè)和信息化部, Was erkennt ein Rasterelektronenmikroskop haupts?chlich?

  • YS/T 1491-2021 Methode zur Bestimmung der Sph?rizit?t von Hochtemperaturlegierungspulvern auf Nickelbasis mittels Rasterelektronenmikroskopie




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