GB/T 5594.8-1985
電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法 顯微結(jié)構(gòu)的測定
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Determination of microstructure
GBT5594.8-1985, GB5594.8-1985
2016-01
- 標(biāo)準(zhǔn)號
- GB/T 5594.8-1985
- 別名
- GBT5594.8-1985, GB5594.8-1985
- 發(fā)布
- 1985年
- 總頁數(shù)
- 5頁
- 發(fā)布單位
- 國家質(zhì)檢總局
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 5594.8-2015
- 當(dāng)前最新
- GB/T 5594.8-2015
- 適用范圍
- 本標(biāo)準(zhǔn)適用于氧化鋁瓷、氧化鈹瓷、滑石瓷和鎂橄欖石瓷等電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷顯微結(jié)構(gòu)的測定。 本標(biāo)準(zhǔn)只涉及光學(xué)顯微鏡的測定內(nèi)容和測定方法。
專題
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