GB/T 5594.6-1985
電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 化學(xué)穩(wěn)定性測(cè)試方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for chemical durability

GBT5594.6-1985, GB5594.6-1985

被代替

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標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

GB/T 5594.6-1985

別名

GBT5594.6-1985, GB5594.6-1985

發(fā)布

1985年

總頁數(shù)

2頁

發(fā)布單位

國(guó)家質(zhì)檢總局

替代標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 5594.6-2015

當(dāng)前最新

GB/T 5594.6-2015

 

 

適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)適用于電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷中的氧化鋁、氧化鈹陶瓷材料的化學(xué)穩(wěn)定性測(cè)定。 標(biāo)準(zhǔn)不適用于測(cè)定鎂橄欖石、莫來石、滑石等陶瓷材料的化學(xué)穩(wěn)定性。

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