LST EN 60749-35-2007
半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候測(cè)試方法 第35部分：塑料封裝電子元件的聲學(xué)顯微鏡（IEC 60749-35:2006）

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006)

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

LST EN 60749-35-2007

發(fā)布

2007年

發(fā)布單位

立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局

當(dāng)前最新

LST EN 60749-35-2007

 

 

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