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GB/T 6462-2005
金屬和氧化物覆蓋層 厚度測(cè)量 顯微鏡法

Metallic and oxide coatings-Measurement of coating thinckness-Microscopical method

GBT6462-2005, GB6462-2005


標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
GB/T 6462-2005
別名
GBT6462-2005, GB6462-2005
發(fā)布
2005年
總頁(yè)數(shù)
14頁(yè)
采用標(biāo)準(zhǔn)
ISO 1463:2003 IDT
發(fā)布單位
國(guó)家質(zhì)檢總局
當(dāng)前最新
GB/T 6462-2005
 
 
引用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 12334
被代替標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 6462-1986
適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了運(yùn)用光學(xué)顯微鏡檢驗(yàn)測(cè)橫斷面,以測(cè)量金屬覆蓋層、氧化膜層和釉瓷或玻璃搪瓷覆蓋層的局部厚度的方法。
術(shù)語(yǔ)描述
局部厚度
Local Thickness
在參比面內(nèi)進(jìn)行規(guī)定次數(shù)厚度測(cè)量的平均值。

GB/T 6462-2005 中提到的儀器設(shè)備

光學(xué)顯微鏡
用于檢測(cè)覆蓋層橫斷面厚度。

其他標(biāo)準(zhǔn)


專(zhuān)題


GB/T 6462-2005相似標(biāo)準(zhǔn)


誰(shuí)引用了GB/T 6462-2005 更多引用





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