GB/T 17626.14-2005
電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)

Electromagnetic compatibility Testing and measurement techniques Voltage fluctuation immunity test

GBT17626.14-2005, GB17626.14-2005

GB/T 17626.14-2005 發(fā)布?xì)v史

GB/T 17626.14-2005由國(guó)家質(zhì)檢總局 CN-GB 發(fā)布于 2005-02-06，并于 2005-12-01 實(shí)施。

GB/T 17626.14-2005 在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: L06 電磁兼容，在國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: 33.100.20 抗擾度。

GB/T 17626.14-2005 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)的最新版本是哪一版？

最新版本是 GB/T 17626.14-2005 。

GB/T 17626.14-2005 采用標(biāo)準(zhǔn)及采用方式

• IDT IEC 61000-4-14:2002電磁兼容性.第4-14部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).電壓波動(dòng)抗擾試驗(yàn)

GB/T 17626.14-2005的歷代版本如下：

• 2005年 GB/T 17626.14-2005 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)

本部分規(guī)定了電氣和/或電子設(shè)備在其所處的電磁環(huán)境下的抗擾度試驗(yàn)。本部分僅考慮傳導(dǎo)現(xiàn)象，包括連接到公用和工業(yè)供電網(wǎng)絡(luò)的設(shè)備的抗擾度試驗(yàn)。 本部分的目的是給出一個(gè)基準(zhǔn)，用以評(píng)估電氣和電子設(shè)備在遭受正和負(fù)的低幅值電壓波動(dòng)時(shí)的抗擾性能。 本部分所涉及的電壓波動(dòng)不包括閃爍，它是由燈光亮度波動(dòng)產(chǎn)生的生理現(xiàn)象。 本部分適用于每相額定電流不大于16A的電氣和/或電子設(shè)備。不適用于連接到直流或400Hz交流配電網(wǎng)絡(luò)的電氣和電子設(shè)備。有關(guān)連接到這些網(wǎng)絡(luò)的設(shè)備的試驗(yàn)在其他的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中給出。 特殊電磁環(huán)境下要求的抗擾度試驗(yàn)水平及相關(guān)的性能判據(jù)，在適用的產(chǎn)品、產(chǎn)品類或通用標(biāo)準(zhǔn)中給出。但是很多類型的產(chǎn)品對(duì)電壓波動(dòng)不敏感，因此這些設(shè)備不需要進(jìn)行本項(xiàng)試驗(yàn)。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

GB/T 17626.14-2005

別名

GBT17626.14-2005
GB17626.14-2005

發(fā)布

2005年

采用標(biāo)準(zhǔn)

IEC 61000-4-14:2002 IDT

發(fā)布單位

國(guó)家質(zhì)檢總局

當(dāng)前最新

GB/T 17626.14-2005

 

 

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