AS ISO 15472:2006
表面化學(xué)分析．X射線光電子光譜法．能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectrometers - Calibration of energy scales
- 標(biāo)準(zhǔn)號
- AS ISO 15472:2006
- 發(fā)布
- 2006年
- 發(fā)布單位
- 澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會
- 當(dāng)前最新
- AS ISO 15472:2006
- 適用范圍
- 采用ISO 15472:2001規(guī)定了用于一般分析目的的X射線光電子能譜儀的結(jié)合能標(biāo)度的校準(zhǔn)方法。
專題
AS ISO 15472:2006相似標(biāo)準(zhǔn)
BH GSO ISO 15472:2016 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
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