ASTM E854-03(2009)
反應(yīng)堆監(jiān)測(cè)用固態(tài)徑跡記錄儀(SSTR)監(jiān)視器的應(yīng)用和分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法,E 706(IIIB)

Standard Test Method for Application and Analysis of Solid State Track Recorder (SSTR) Monitors for Reactor Surveillance, E706(IIIB)

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

ASTM E854-03(2009)

發(fā)布

2003年

發(fā)布單位

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)

替代標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E854-14

當(dāng)前最新

ASTM E854-19

 

 

適用范圍

SSTR 方法可測(cè)量每單位質(zhì)量的絕對(duì)裂變密度。如果已知適當(dāng)?shù)闹凶幽茏V平均裂變截面，則可以從這些基于 SSTR 的絕對(duì)裂變速率觀測(cè)值推斷出絕對(duì)中子注量。這種方法對(duì)堆芯輻射場(chǎng)的其他組成部分具有很強(qiáng)的歧視性。伽馬射線、β 射線和其他輕電離粒子在適當(dāng)?shù)?LWR SSTR 候選材料中不會(huì)產(chǎn)生可觀察到的軌跡。然而，光裂變會(huì)對(duì)觀察到的裂變徑跡密度產(chǎn)生影響，因此在不可忽略的情況下應(yīng)予以考慮。有關(guān)光裂變效應(yīng)的更詳細(xì)討論，請(qǐng)參見 13.4。在此測(cè)試方法中，SSTR 與可裂變沉積物表面接觸并記錄中子誘發(fā)的裂變碎片。通過改變可裂變沉積物的表面質(zhì)量密度（μg/cm2）以及采用允許的徑跡密度范圍（從大約 1 個(gè)事件/cm2 到 105 個(gè)事件/cm2，用于手動(dòng)掃描），范圍總注量靈敏度覆蓋至少 16 個(gè)數(shù)量級(jí)是可能的，從大約 102 n/cm 2 到 5 × 1018 牛/平方厘米。裂變徑跡密度的允許范圍比 1.2 中引用的光學(xué)顯微鏡高精度手動(dòng)掃描工作的徑跡密度范圍更寬。特別是，存在自動(dòng)化和半自動(dòng)化方法，這些方法拓寬了手動(dòng)光學(xué)顯微鏡可用的常規(guī)軌道密度范圍。在這個(gè)更寬的磁道密度區(qū)域中，在非常低的磁道密度下減少計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)和在非常高的磁道密度下進(jìn)行磁道堆積校正的影響可能對(duì)高精度工作帶來固有的限制。第 11 節(jié)描述了自動(dòng)掃描技術(shù)。對(duì)于劑量測(cè)定應(yīng)用，可以通過改變用于裂變沉積的核素來選擇性地強(qiáng)調(diào)中子譜的不同能量區(qū)域?？梢灾苯邮褂?SSTR 進(jìn)行中子劑量測(cè)定，如 4.1 中所述，或者通過暴露在基準(zhǔn)中子場(chǎng)中來獲得復(fù)合中子探測(cè)效率。必須知道該基準(zhǔn)場(chǎng)中的注量和頻譜平均橫截面。此外，由于光譜與用于校準(zhǔn)的基準(zhǔn)場(chǎng)光譜的偏差，在其他中子場(chǎng)中的應(yīng)用可能需要調(diào)整。無論如何，必須強(qiáng)調(diào)的是，SSTR 裂變密度測(cè)量可以完全獨(dú)立于任何截面標(biāo)準(zhǔn) (6)。因此，對(duì)于某些應(yīng)用，不應(yīng)損害該測(cè)試方法的獨(dú)立性。另一方面，存在許多實(shí)際應(yīng)用，其中該因素并不重要，因此基準(zhǔn)現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)將是完全合適的。
1.1 本測(cè)試方法描述了在輕水反應(yīng)堆（LWR）應(yīng)用中使用固態(tài)跟蹤記錄儀（SSTR）進(jìn)行中子劑量測(cè)定。這些應(yīng)用從低中子注量擴(kuò)展到高中子注量，包括高功率壓力容器監(jiān)視和測(cè)試反應(yīng)堆輻照以及低功率基準(zhǔn)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。 (1) 該測(cè)試方法取代了方法 E 418。該測(cè)試方法更加詳細(xì)，并特別注意使用最先進(jìn)的手動(dòng)和自動(dòng)軌道計(jì)數(shù)方法來獲得高絕對(duì)精度。強(qiáng)調(diào)了實(shí)際高注量高溫 LWR 應(yīng)用中的原位劑量測(cè)定。
1.2 本測(cè)試方法包括手動(dòng)和自動(dòng)方法的 SSTR 分析。為了獲得所需的精度，所選擇的磁道掃描方法對(duì)允許的磁道密度施加了限制。通常，在 5 至 ...... 范圍內(nèi)可以獲得良好的結(jié)果。

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