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GB/T 2423.49-1997
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fe:振動(dòng)--正弦拍頻法

Environmental testing for electric and electronic products. Part 2: Test methods. Test Fe:Vibration--sine-beat method

GBT2423.49-1997, GB2423.49-1997

2019-07

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
GB/T 2423.49-1997
別名
GBT2423.49-1997, GB2423.49-1997
發(fā)布
1997年
總頁(yè)數(shù)
18頁(yè)
采用標(biāo)準(zhǔn)
IEC 68-2-59:1990 IDT
發(fā)布單位
國(guó)家質(zhì)檢總局
替代標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.48-2018
當(dāng)前最新
GB/T 2423.48-2018
 
 
適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了元器件、設(shè)備和其他電工電子產(chǎn)品的正弦拍頻振動(dòng)試驗(yàn)方法。因?yàn)檫@些元器件、設(shè)備和其他電工電子產(chǎn)品、下稱樣品）在使用中會(huì)經(jīng)受到諸如地震、爆炸現(xiàn)象或機(jī)器振動(dòng)所引起的短持續(xù)時(shí)間的脈沖和振蕩力的作用。 在本試驗(yàn)中，樣品在固定頻率上用若干預(yù)定的正弦拍頻振動(dòng)激勵(lì)（見(jiàn)圖1）。這些固定試驗(yàn)頻率不是預(yù)定頻率就是借助于正弦振動(dòng)試驗(yàn)（GB/T 2423.10）辯別出來(lái)的危險(xiǎn)頻率。在獨(dú)立的正弦拍頻之間有一間歇，以便允許樣品的自響應(yīng)衰減。 在本標(biāo)準(zhǔn)的12章中列出了編寫有關(guān)規(guī)范必須具備細(xì)節(jié)的詳細(xì)清單，并且在附錄A（提示的附錄）導(dǎo)則中得到指導(dǎo)。

其他標(biāo)準(zhǔn)

專題

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