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GSO ISO 25498:2015
微束分析分析掃描電子顯微鏡使用透射電子顯微鏡進行選區(qū)電子衍射分析

Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope

標準號: GSO ISO 25498:2015
發(fā)布: 2015年
發(fā)布單位: GSO
當前最新: GSO ISO 25498:2015

適用范圍: 本標準未規(guī)定范圍

專題

用顯微鏡進行電子透視掃描顯微鏡購買透射2電子顯微鏡透射電子顯微鏡樣品要求透射電子顯微鏡的電子電子顯微鏡圖像法透射式電子顯微鏡 TEM 環(huán)境式透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡襯度電子顯微鏡的選擇掃描電鏡分析碳環(huán)境透射電子顯微鏡

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GSO ISO 25498:2015 中可能用到的儀器設(shè)備

掃描電鏡SEM 透射電鏡TEM 數(shù)碼顯微鏡分子互作分析儀

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頁面更新時間: 2024-10-30 22:38