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NF EN 60749-35:2006
半導體器件 - 氣候和機械測試方法 - 第 35 部分：塑料封裝電子元件的聲學顯微鏡

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essai climatiques et mécaniques - Partie 35 : microscopie acoustique pour composants électroniques à bo?tier plastique

標準號: NF EN 60749-35:2006
發布: 2006年
發布單位: 法國標準化協會
當前最新: NF EN 60749-35:2006

專題

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