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BS ISO 25498 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區(qū)電子衍射分析

BS ISO 25498 Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope

標準號

24/30479937 DC

發(fā)布

2024年

發(fā)布單位

英國標準學會

當前最新

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介紹

BS ISO 25498 是由英國標準學會（GB-BSI）發(fā)布的一項國際標準，該標準于2024年6月7日發(fā)布并實施。該標準主要涉及微束分析領(lǐng)域，特別是使用透射電子顯微鏡（TEM）進行選區(qū)電子衍射（SAED）分析的技術(shù)規(guī)范。它提供了詳細的操作指南和技術(shù)要求，以確保在材料科學、納米技術(shù)等領(lǐng)域中，通過電子衍射獲得的晶體結(jié)構(gòu)信息具有高準確性和可重復(fù)性。該標準適用于研究人員和實驗室技術(shù)人員，幫助他們優(yōu)化實驗流程并提升分析結(jié)果的可靠性。

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