DIN ISO 15472:2020
表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀 能標(biāo)校準(zhǔn)（ISO 15472:2010）；英文文本
Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectrometers - Calibration of energy scales (ISO 15472:2010); Text in English
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- DIN ISO 15472:2020
- 發(fā)布
- 2020年
- 發(fā)布單位
- 德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- DIN ISO 15472:2020-05
- 當(dāng)前最新
- DIN ISO 15472:2020-05
專題
DIN ISO 15472:2020相似標(biāo)準(zhǔn)
DIN ISO 15472 E:2019 文件草案 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)度校準(zhǔn)（ISO 15472:2010） 英文文本
DIN ISO 15472:2020-05 表面化學(xué)分析 - X 射線光電子能譜儀 - 能量標(biāo)度校準(zhǔn) (ISO 15472:2010)
GB/T 22571-2008 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀.能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
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推薦
記國(guó)家大型科學(xué)儀器中心北京電子能譜中心副主任姚文清
她從制定我國(guó)俄歇電子能譜儀第一個(gè)“GB/T 26533俄歇電子能譜分析方法通則”開始，針對(duì)俄歇電子能譜儀（AES）和X射線光電子能譜儀（XPS）進(jìn)行了深入系統(tǒng)的研究，相繼開展制定了納米材料定性定量分析絕緣類樣品表面成分及化合態(tài)等12項(xiàng)表面化學(xué)分析方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，確定了儀器能量標(biāo)不確定度等大型表面分析科學(xué)儀器校正校準(zhǔn)方法，建立了國(guó)家實(shí)驗(yàn)室認(rèn)證認(rèn)可、計(jì)量認(rèn)證資質(zhì)認(rèn)定的檢測(cè)依據(jù)。...
2015第一批國(guó)標(biāo)修訂計(jì)劃發(fā)布 分析測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)31項(xiàng)
、中國(guó)石化石油化工科學(xué)研究院、國(guó)家納米科學(xué)中心20150514-T-469表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)推薦方法修訂無GB/T 22571-2008 12國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)中國(guó)科學(xué)院化學(xué)研究所、復(fù)旦大學(xué)20150515-T-469絕緣微細(xì)顆粒中金屬的測(cè)定 俄歇電子能譜法推薦方法制定無 24國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)清華大學(xué)化學(xué)系...