描述掃描電鏡
本專題涉及描述掃描電鏡的標準有125條。
國際標準分類中，描述掃描電鏡涉及到電子顯示器件、光學設備、信息技術用語言、光學和光學測量、建筑材料、分析化學、物理學、化學、詞匯、教育、長度和角度測量、表面處理和鍍涂、有色金屬、空氣質量、石油和天然氣的開采與加工、熱力學和溫度測量、犯罪行為防范、涂料和清漆、金屬材料試驗、光電子學、激光設備、紡織纖維。
在中國標準分類中，描述掃描電鏡涉及到放大鏡與顯微鏡、程序語言、電子光學與其他物理光學儀器、電磁計量、、基礎標準與通用方法、電子元件綜合、檢驗專用設備、教學專用儀器、化學計量、技術管理、材料防護、教育、學位、學銜、石油地質勘探、石油勘探、開發與集輸工程綜合、石油開發、電化學、熱化學、光學式分析儀器、記錄儀器及光線示波器、光學設備、金屬化學性能試驗方法、犯罪鑒定技術、光學計量、油頁巖、金相檢驗方法、化學纖維綜合。
美國材料與試驗協會，關于描述掃描電鏡的標準
- ASTM E986-04 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標準實施規程
- ASTM E986-04(2010) 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標準實施規程
- ASTM E766-98 校準掃描電子顯微鏡的放大倍數
- ASTM E766-98(2003) 校準掃描電子顯微鏡的放大倍數
- ASTM E2382-04(2020) 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和尖端相關人工標準指南
- ASTM E2382-04 掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關物品的指南
- ASTM E2382-04(2012) 掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關物品的標準指南
- ASTM E986-04(2017) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
- ASTM E986-04(2024) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
- ASTM E766-14 掃描電子顯微鏡放大倍率校準的標準方法
- ASTM E986-97 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
- ASTM E766-98(2008)e1 掃描電子顯微鏡的放大系數的標準校正規范
國家質檢總局，關于描述掃描電鏡的標準
- GB/T 27788-2011 微束分析.掃描電鏡.圖像放大倍率校準導則
- GB/T 16594-1996 微米級長度的掃描電鏡測量方法
- GB/T 31563-2015 金屬覆蓋層 厚度測量 掃描電鏡法
- GB/T 17722-1999 金屬蓋層厚度的掃描電鏡測量方法
- GB/T 20307-2006 納米級長度的掃描電鏡測量方法通則
- GB/T 16594-2008 微米級長度的掃描電鏡測量方法通則
- GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
- GB/T 17362-1998 黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
- GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則
- GB/T 29190-2012 掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法
- GB/T 18295-2001 油氣儲層砂巖樣品 掃描電子顯微鏡分析方法
- GB/T 30834-2014 鋼中非金屬夾雜物的評定和統計 掃描電鏡法
- GB/T 36422-2018 化學纖維 微觀形貌及直徑的測定 掃描電鏡法
- GB/T 30834-2022 鋼中非金屬夾雜物的評定和統計 掃描電鏡法
美國電氣電子工程師學會，關于描述掃描電鏡的標準
- IEEE 1450.6.1-2009 芯片上掃描壓縮的描述
日本工業標準調查會，關于描述掃描電鏡的標準
- JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則
國際標準化組織，關于描述掃描電鏡的標準
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
- ISO/TS 10798:2011 納米技術.使用掃描電鏡與X射線能譜分析的單臂碳納米管的特征描述
- ISO 22493:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡方法.詞匯
- ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- ISO 9220:1988 金屬覆蓋層 鍍層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- ISO 16700:2016 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
- ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
美國國家標準學會，關于描述掃描電鏡的標準
- ANSI/IEEE 1450.6.1:2009 芯片組掃描壓縮比描述標準
國家計量技術規范，關于描述掃描電鏡的標準
- JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準規范
- JJF 1351-2012 掃描探針顯微鏡校準規范
行業標準-機械，關于描述掃描電鏡的標準
- JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗方法
- JB/T 5384-1991 掃描電子顯微鏡.技術條件
- JB/T 7503-1994 金屬覆蓋層橫截面厚度.掃描電鏡測量方法
國家計量檢定規程，關于描述掃描電鏡的標準
- JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規程
- JJG 550-1988 掃描電子顯微鏡試行檢定規程
SCC，關于描述掃描電鏡的標準
- VDI/VDE 5565 BLATT 1:2023 光學相干斷層掃描 (OCT) 過程描述
- 13/30203227 DC BS ISO 13083 表面化學分析 掃描探針顯微鏡 掃描擴散電阻顯微鏡和掃描電容顯微鏡的空間分辨率定義和校準標準
- AWWA ACE56156 使用平板掃描儀和掃描電子顯微鏡評估膜表面污染模式
- BS ISO 22493:2008 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- 06/30128226 DC ISO 22493 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- VDI 3866 BLATT 5-2017 工業產品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
- BS DISC PD 0016:2001 文檔掃描 商業文檔掃描指南
- BS PD 0016:2001 文檔掃描 商業文檔掃描指南
- VDI 3866 BLATT 5-2017 工業產品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
- DANSK DS/ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- BS EN ISO 9220:1995 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
行業標準-商品檢驗，關于描述掃描電鏡的標準
- SN/T 4388-2015 皮革鑒定 掃描電鏡和光學顯微鏡法
- SN/T 3009-2011 金屬表面海水腐蝕掃描電鏡鑒定方法
中國團體標準，關于描述掃描電鏡的標準
- T/SPSTS 032-2023 掃描電化學顯微鏡通用規范
- T/CSTM 00795-2022 材料實驗數據 掃描電鏡圖片要求
- T/QGCML 1940-2023 掃描電子顯微鏡原位高溫力學測試裝置
- T/CSTM 00229-2020 涂料中石墨烯材料的測定掃描電鏡-能譜法
- T/NLIA 004-2021 增材制造鋁合金掃描電鏡原位拉伸 試驗方法
- T/SPSTS 030-2023 石墨烯材料 片徑尺寸測量 掃描電子顯微鏡法
國家軍用標準-總裝備部，關于描述掃描電鏡的標準
- GJB 2666-1996 掃描反射鈹鏡體規范
- GJB 2666A-2018 掃描反射鈹鏡體規范
- GJB 737.11-1993 火工品藥劑試驗方法 粒度測定 掃描電鏡法
- GJB 8288-2014 超高速轉鏡式掃描攝影系統檢定規程
韓國科技標準局，關于描述掃描電鏡的標準
- KS I 0051-2019 掃描電子顯微鏡的一般規則
- KS M 0044-1999 掃描電子顯微鏡的一般規則
- KS I 0051-1999(2019) 掃描電子顯微鏡的一般規則
- KS I 0051-1999 掃描電子顯微鏡試驗方法通則
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.掃描電子顯微鏡.術語
- KS D 2714-2016(2021) 掃描探針顯微鏡－側向力顯微鏡法
- KS D 2714-2016 橫向力顯微鏡掃描探針顯微鏡方法
- KS D 2714-2021 掃描探針顯微鏡 側向力顯微鏡方法
- KS D ISO 9220:2009 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2009(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2009(2017) 金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 16700:2013 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于描述掃描電鏡的標準
- GB/T 33834-2017 微束分析 掃描電子顯微術 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法
GSO，關于描述掃描電鏡的標準
- BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO 22493:2015 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO 9220:2013 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
行業標準-教育，關于描述掃描電鏡的標準
- JY/T 0584-2020 掃描電子顯微鏡分析方法通則
- JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則
- JY/T 0582-2020 掃描探針顯微鏡分析方法通則
KR-KS，關于描述掃描電鏡的標準
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
英國標準學會，關于描述掃描電鏡的標準
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標記圖像文件格式
- BS EN ISO 9220:1989 金屬鍍層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- BS EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
上海市標準，關于描述掃描電鏡的標準
- DB31/T 297-2003 掃描電子顯微鏡放大倍率校準方法
國家能源局，關于描述掃描電鏡的標準
- SY/T 5162-2021 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
(美國)軍事條例和規范，關于描述掃描電鏡的標準
- ARMY MIL-PRF-49177 B VALID NOTICE 1-2013 掃描隔行掃描，PL-1408/UA
- ARMY MIL-PRF-49168C-1997 掃描隔行掃描，PL-1403/UA，PL-1403A/UA
- ARMY MIL-PRF-49168 C NOTICE 1-2013 掃描隔行掃描，PL-1403/UA，PL-1403A/UA
行業標準-石油，關于描述掃描電鏡的標準
- SY 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY/T 5162-1997 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY/T 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY/T 6110-2016 氣藏描述方法
德國機械工程師協會，關于描述掃描電鏡的標準
- VDI 3866 Blatt 5-2004 技術產品中石棉的測定掃描電鏡法
江蘇省標準，關于描述掃描電鏡的標準
- DB32/T 4546-2023 電鏡掃描硅藻圖像自動化檢驗技術規范
廣東省標準，關于描述掃描電鏡的標準
- DB44/T 1527-2015 微束分析 掃描電鏡 圖像清晰度評價方法
行業標準-司法，關于描述掃描電鏡的標準
- SF/T 0139-2023 泥土檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
VDI - Verein Deutscher Ingenieure，關于描述掃描電鏡的標準
- VDI 3866 BLATT 5-2015 技術產品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
- VDI 3866 Blatt 5-2003 工業產品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于描述掃描電鏡的標準
- GB/T 27788-2020 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準導則
HU-MSZT，關于描述掃描電鏡的標準
- MSZ 18/2-1980 描述表．描述表的創建
RU-GOST R，關于描述掃描電鏡的標準
- GOST R 8.594-2009 確保測量一致性的國家體系.掃描電子顯微鏡
法國標準化協會，關于描述掃描電鏡的標準
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- NF EN ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- NF A91-108:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
SE-SIS，關于描述掃描電鏡的標準
- SIS SS CECC 00013-1985 基本規范．半導體芯片的掃描電子顯微鏡觀察
- SIS SS-ISO 9220:1989 金屬涂層．涂層厚度測量．掃描電子顯微鏡方法
丹麥標準化協會，關于描述掃描電鏡的標準
- DS/EN ISO 9220:1995 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
IN-BIS，關于描述掃描電鏡的標準
- IS 6451-1972 掃描規范
德國標準化學會，關于描述掃描電鏡的標準
- DIN EN ISO 9220:2022-05 金屬涂層-涂層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法
歐洲標準化委員會，關于描述掃描電鏡的標準
- EN ISO 9220:2022 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
美國電影與電視工程師協會，關于描述掃描電鏡的標準
- SMPTE 2016-5-2009 用于活動格式描述、條形數據和全景掃描信息的 KLV 編碼
