光譜儀描述
本專題涉及光譜儀描述的標(biāo)準(zhǔn)有15條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，光譜儀描述涉及到光學(xué)和光學(xué)測量、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測量、分析化學(xué)。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，光譜儀描述涉及到電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、色譜儀、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、化學(xué)。
美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于光譜儀描述的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E932-89(2007) 散射式紅外光譜儀性能描述和測量的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程
- ASTM E1944-98(2021) 實驗室傅里葉變換近紅外（FT-NIR）光譜儀的描述和測量性能的標(biāo)準(zhǔn)實踐:零級和一級測試
- ASTM E356-78(1996) 描述和指定光譜儀的實施規(guī)程
- ASTM E1016-07(2020) 文獻(xiàn)描述靜電電子光譜儀性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1421-99 傅里葉轉(zhuǎn)換中紅外線(FT-IR)光譜儀的性能描述和測量的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程:0級和1級試驗
- ASTM E1421-99(2004) 傅里葉轉(zhuǎn)換中紅外線(FT-IR)光譜儀的性能描述和測量的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程:0級和1級試驗
- ASTM E1421-99(2015)e1 傅里葉變換中紅外線 (FT-MIR) 光譜儀的性能描述和測量的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程: 0級和1級試驗
- ASTM E1421-99(2009) 傅里葉轉(zhuǎn)換中紅外線(FT-IR)光譜儀的性能描述和測量的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程:0級和1級試驗
澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會，關(guān)于光譜儀描述的標(biāo)準(zhǔn)
- AS ISO 15470:2006 表面化學(xué)分析．X射線光電子光譜法．選定儀器性能參數(shù)的描述
未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于光譜儀描述的標(biāo)準(zhǔn)
- AS ISO 15470:2006(R2016) 表面化學(xué)分析 X射線光電子光譜法 選定儀器性能參數(shù)的描述
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于光譜儀描述的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 15470:2004 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于光譜儀描述的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 15470:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
- BS ISO 15470:2017 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于光譜儀描述的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 15470:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于光譜儀描述的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS K 0162:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
