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x射線光電子能譜儀制樣

本專題涉及x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)有26條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中,x射線光電子能譜儀制樣涉及到分析化學(xué)、長(zhǎng)度和角度測(cè)量、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測(cè)量。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中,x射線光電子能譜儀制樣涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、電子測(cè)量與儀器綜合。


中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì),關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 22571-2017 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)

國(guó)家質(zhì)檢總局,關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 25184-2010 X射線光電子能譜儀鑒定方法
  • GB/T 22571-2008 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀.能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
  • GB/T 21006-2007 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)的線性

德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì),關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)

  • DIN ISO 16129-2020 表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜-評(píng)估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì),關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)

  • ASTM E1217-11(2019) 用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測(cè)到的信號(hào)的樣品區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E2108-16 X射線光電子能譜儀的電子結(jié)合能量標(biāo)尺的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E1217-11 用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測(cè)到的信號(hào)的樣品區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E2108-10 X射線光電子能譜儀的電子結(jié)合能量標(biāo)尺的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E1217-05 用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測(cè)到的信號(hào)的樣品區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E2108-05 X射線光電子能譜儀的電子結(jié)合能量標(biāo)尺的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E2108-00 X射線光電子能譜儀的電子結(jié)合能量標(biāo)尺的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E1217-00 用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測(cè)到的信號(hào)的樣品區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E902-94(1999) 檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織,關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)

  • ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜 - 評(píng)估X射線光電子能譜儀日常性能的方法
  • ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析——X射線光電子能譜;X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估程序
  • ISO 16129-2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估規(guī)程
  • ISO 15472:2010 表面化學(xué)分析——X射線光電子能譜儀——能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
  • ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析——X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀——強(qiáng)度標(biāo)度線性
  • ISO 21270-2004 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì),關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)

  • BS ISO 16129-2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估規(guī)程

,關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)

韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn),關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)

  • KS D ISO 21270-2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性
  • KS D ISO 21270-2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子,關(guān)于x射線光電子能譜儀制樣的標(biāo)準(zhǔn)

  • SJ/T 10714-1996 檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標(biāo)準(zhǔn)方法




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