sem 掃描 分析
本專(zhuān)題涉及sem 掃描 分析的標(biāo)準(zhǔn)有9條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，sem 掃描 分析涉及到光學(xué)設(shè)備、長(zhǎng)度和角度測(cè)量、鞋類(lèi)、分析化學(xué)。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，sem 掃描 分析涉及到電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、油、氣處理設(shè)備、鞋、靴、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于sem 掃描 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 21466:2019 微束分析.掃描電子顯微鏡.用CD-SEM評(píng)定臨界尺寸的方法
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于sem 掃描 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標(biāo)記圖像文件格式
- 18/30344520 DC BS ISO 21466 微束分析 掃描電子顯微鏡 CD-SEM 評(píng)估關(guān)鍵尺寸的方法
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于sem 掃描 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 23414-2009 微束分析.掃描電子顯微術(shù).術(shù)語(yǔ)
美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于sem 掃描 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM F1372-93(2005) 氣體分配系統(tǒng)組件用金屬表面狀態(tài)的掃描式電子顯微鏡(SEM)分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM F1372-93(2012) 氣體分配系統(tǒng)組件用金屬表面狀態(tài)的掃描式電子顯微鏡 (SEM) 分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E3309-21 用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線(xiàn)光譜法（SEM/EDS）報(bào)告法醫(yī)底漆槍彈殘留物（pGSR）分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
福建省地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于sem 掃描 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- DB35/T 1778-2018 腳型測(cè)量 掃描分析法
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于sem 掃描 分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 33834-2017 微束分析 掃描電子顯微術(shù) 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法
