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x射線能譜分析區(qū)域

本專題涉及x射線能譜分析區(qū)域的標準有376條。

國際標準分類中，x射線能譜分析區(qū)域涉及到分析化學、光學和光學測量、輻射測量、黑色金屬、光學設備、電學、磁學、電和磁的測量、詞匯、金屬材料試驗、金屬礦、鋼鐵產(chǎn)品、地質(zhì)學、氣象學、水文學、有色金屬、耐火材料、無損檢測、長度和角度測量、電站綜合、鐵合金、建筑材料、核能工程、涂料配料、醫(yī)學科學和保健裝置綜合、非金屬礦、無機化學、化工產(chǎn)品、廢物、燃料、紙和紙板、物理學、化學、醫(yī)療設備、實驗室醫(yī)學、石油產(chǎn)品綜合、橡膠和塑料工業(yè)的生產(chǎn)工藝、表面處理和鍍涂、金屬的腐蝕、石油、石油產(chǎn)品和天然氣儲運設備、燃燒器、鍋爐、犯罪行為防范、紡織產(chǎn)品。

在中國標準分類中，x射線能譜分析區(qū)域涉及到基礎標準與通用方法、電子光學與其他物理光學儀器、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、半導體分立器件綜合、鋼鐵與鐵合金分析方法、綜合測試系統(tǒng)、金屬化學分析方法綜合、化學、鐵礦、重金屬礦、地球科學、耐火材料綜合、電化學、熱化學、光學式分析儀器、實驗室基礎設備、電力試驗技術、稀有輕金屬及其合金、建材產(chǎn)品綜合、金屬無損檢驗方法、同位素與放射源綜合、重金屬及其合金分析方法、涂料基礎標準與通用方法、稀有金屬及其合金分析方法、鋼鐵產(chǎn)品綜合、核儀器與核探測器綜合、顏料、有色金屬礦綜合、化學計量、建材原料礦、不定型耐火材料、定型隔熱耐火材料、化學助劑基礎標準與通用方法、土壤、肥料綜合、土壤環(huán)境質(zhì)量分析方法、輕金屬及其合金分析方法、有色金屬及其合金產(chǎn)品綜合、冶金原料與輔助材料綜合、物理學與力學、造紙綜合、Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器、金屬物理性能試驗方法、工業(yè)廢水、污染物分析方法、紙、電子元件綜合、貴金屬及其合金分析方法、燃料油、輻射防護監(jiān)測與評價、稀有金屬礦、催化劑基礎標準與通用方法、石油產(chǎn)品綜合、輕金屬及其合金、合成樹脂、塑料基礎標準與通用方法、、生活服務汽車、基本有機化工原料、潤滑油、犯罪鑒定技術、材料防護、半金屬及半導體材料分析方法、光學測試儀器、氧化物、單質(zhì)、物質(zhì)成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測儀器綜合、核材料、核燃料及其分析試驗方法、炭素材料。


國際標準化組織，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • ISO/TR 19319:2003 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
  • ISO 10810:2019 表面化學分析 - X射線光電子能譜分析指南
  • ISO 16129:2018 表面化學分析 - X射線光電子能譜 - 評估X射線光電子能譜儀日常性能的方法
  • ISO 16129:2012 表面化學分析.X射線光電子能光譜學.X射線光電子能譜儀日常性能評估規(guī)程
  • ISO 10810:2010 表面化學分析.X射線光電子能譜學.分析導則
  • ISO 13424:2013 表面化學分析——X射線光電子能譜；薄膜分析結果的報告
  • ISO 15472:2010 表面化學分析.X射線光電譜儀.能量刻度表校準
  • ISO 15472:2001 表面化學分析 X射線光電譜儀 能量刻度表校準
  • ISO 21270:2004 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標的線性
  • ISO 18554:2016 表面化學分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對材料進行分析的X射線的意外降解的識別, 評估和修正程序
  • ISO/CD TR 18392:2023 表面化學分析 X 射線光電子能譜 確定背景的程序
  • ISO 15470:2017 表面化學分析. X射線光電子能譜. 選擇儀器性能參數(shù)說明
  • ISO 19830:2015 表面化學分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的最低報告要求
  • ISO 14701:2018 表面化學分析 - X射線光電子能譜 - 氧化硅厚度的測量
  • ISO 14701:2011 表面化學分析.X射線光電子能譜.二氧化硅厚度的測量
  • ISO 16243:2011 表面化學分析.X射線光電子能譜術(XPS)的記錄和報告數(shù)據(jù)
  • ISO 15470:2004 表面化學分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
  • ISO/TS 18507:2015 表面化學分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用
  • ISO 17109:2015 表面化學分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
  • ISO/TR 18392:2005 表面化學分析.X射線光電子光譜學.背景測定程序
  • ISO 17470:2004 微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法分析質(zhì)量點的指南
  • ISO 17470:2014 微束分析. 電子探針微量分析. 用波長色散X射線光譜測定法定性點分析指南
  • ISO/TS 10798:2011 納米技術.使用掃描電鏡與X射線能譜分析的單臂碳納米管的特征描述
  • ISO 18516:2006 表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測定
  • ISO/CD 5861 表面化學分析 X射線光電子能譜 石英晶體單色Al Ka XPS儀器強度校準方法
  • ISO/DIS 5861:2023 表面化學分析 X射線光電子能譜 石英晶體單色 Al Kα XPS 儀器強度校準方法
  • ISO/DIS 18118:2023 表面化學分析 俄歇電子能譜和 X 射線光電子能譜 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質(zhì)材料定量分析的指南
  • ISO/FDIS 18118:2023 表面化學分析 - 俄歇電子能譜和 X 射線光電子能譜 - 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質(zhì)材料定量分析的指南
  • ISO 17109:2022 表面化學分析.深度剖面.用單層和多層薄膜在X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質(zhì)譜中測定濺射速率的方法
  • ISO 22489:2006 微光束分析.電子探針微量分析.運用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品
  • ISO 22489:2016 微光束分析.電子探針微量分析.運用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品
  • ISO 19668:2017 表面化學分析.X射線光電子能譜學.均勻材料中元素檢測極限的估算和報告
  • ISO 17054:2010 用X射線熒光光譜法(XRF)近似技術分析高合金鋼的常規(guī)方法
  • ISO 24237:2005 表面化學分析.X射線光電子光譜法.強度的可重復性和穩(wěn)定性
  • ISO 8754:2003 石油產(chǎn)品.硫含量的測定.能量分散X射線熒光光譜測定法
  • ISO 19318:2004 表面化學分析.X射線光電光譜法.電荷控制和電荷校正方法的報告
  • ISO 19318:2021 表面化學分析. X射線光電光譜法. 電荷控制和電荷校正方法的報告
  • ISO 15632:2021 微光束分析.帶半導體探測器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范
  • ISO 15632:2012 微光束分析.帶半導體探測器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范
  • ISO 20903:2019 表面化學分析 - 俄歇電子光譜和X射線光電子能譜 - 用于確定峰值強度的方法和報告結果時所需的信息
  • ISO 15632:2002 微光束分析.帶半導體探測器的能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范

韓國科技標準局，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

澳大利亞標準協(xié)會，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • AS ISO 19319:2006 表面化學分析．Augur電子能譜法和X射線光電子光譜法．分析員對橫向分辨率；分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
  • AS ISO 15472:2006 表面化學分析．X射線光電子光譜法．能量標度的校準
  • AS ISO 15470:2006 表面化學分析．X射線光電子光譜法．選定儀器性能參數(shù)的描述
  • AS 4392.1:1996 重礦砂．波長色散X射線熒光光譜法分析．鈦礦砂
  • AS 4392.2:1997 重礦砂．波長色散X射線熒光光譜法分析．誥石材料
  • AS 4392.1:1996/Amdt 2:1999 重礦砂 波長色散 X 射線熒光光譜法分析 含鈦礦砂
  • AS 4392.1:1996/Amdt 1:1996 重礦砂 波長色散 X 射線熒光光譜法分析 含鈦礦砂
  • AS ISO 18118:2006 表面化學分析．俄歇電子能譜法和X射線光電子光譜法．均質(zhì)材料定量分析中實驗測定的相對靈敏系數(shù)使用指南
  • AS ISO 24237:2006 表面化學分析．X射線光電子光譜學．強度標的可重復性和恒定性
  • AS ISO 19318:2006 表面化學分析．X射線光電子光譜學．電荷控制和電荷調(diào)整用報告法

國家質(zhì)檢總局，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • GB/T 19500-2004 X射線光電子能譜分析方法通則
  • GB/T 30704-2014 表面化學分析 X射線光電子能譜 分析指南
  • GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
  • GB/T 17362-1998 黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
  • GB/T 31470-2015 俄歇電子能譜與X射線光電子能譜測試中確定檢測信號對應樣品區(qū)域的通則
  • GB/T 42360-2023 表面化學分析 水的全反射X射線熒光光譜分析
  • GB/T 22571-2008 表面化學分析.X射線光電子能譜儀.能量標尺的校準
  • GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則
  • GB/T 21006-2007 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標的線性
  • GB/T 28632-2012 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.橫向分辨率測定
  • GB/T 18873-2002 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線 能譜定量分析通則
  • GB/T 18873-2008 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則
  • GB/Z 32490-2016 表面化學分析 X射線光電子能譜 確定本底的程序
  • GB/T 20726-2015 微束分析 電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數(shù)及核查方法
  • GB/T 28892-2012 表面化學分析.X射線光電子能譜.選擇儀器性能參數(shù)的表述
  • GB/T 17507-2008 透射電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標樣的通用技術條件
  • GB/T 17507-1998 電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標樣通用技術條件
  • GB/T 16597-1996 冶金產(chǎn)品分析方法 X射線熒光光譜法通則
  • GB/T 29556-2013 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測定
  • GB/T 28633-2012 表面化學分析.X射線光電子能譜.強度標的重復性和一致性
  • GB/Z 42520-2023 鐵礦石X射線熒光光譜分析實驗室操作指南
  • GB/T 17723-1999 黃金制品鍍層成分的X射線能譜測量方法
  • GB/T 29513-2013 含鐵塵泥 X射線熒光光譜化學分析 熔鑄玻璃片法
  • GB/T 21114-2007 耐火材料 X射線熒光光譜化學分析 - 熔鑄玻璃片法
  • GB/T 25185-2010 表面化學分析.X射線光電子能譜.荷電控制和荷電校正方法的報告
  • GB/T 8156.10-1987 工業(yè)用氟化鋁中硫量的測定 X射線熒光光譜分析法
  • GB/T 2679.11-2008 紙和紙板 無機填料和無機涂料的定性分析.電子顯微鏡/X射線能譜法
  • GB/T 2679.11-1993 紙和紙板中無機填料和無機涂料的定性分析 電子顯微鏡/X射線能譜法
  • GB/T 28893-2012 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.測定峰強度的方法和報告結果所需的信息
  • GB/T 17416.2-1998 鋯礦石化學分析方法 X射線熒光光譜法測定鋯量和鉿量
  • GB/T 30702-2014 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 實驗測定的相對靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南
  • GB/Z 41476.4-2022 無損檢測儀器　1 MV以下X射線設備的輻射防護規(guī)則　第4部分：控制區(qū)域的計算
  • GB/T 14506.28-1993 硅酸鹽巖石化學分析方法 X射線熒光光譜法測定主、次元素量
  • GB/T 14849.5-2010 工業(yè)硅化學分析方法.第5部分：元素含量的測定.X射線熒光光譜法
  • GB/T 14849.5-2014 工業(yè)硅化學分析方法 第5部分:雜質(zhì)元素含量的測定 X射線熒光光譜法
  • GB/T 6609.30-2009 氧化鋁化學分析方法和物理性能測定方法.第30部分:X射線熒光光譜法測定微量元素含量

德國標準化學會，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • DIN ISO 16129:2020-11 表面化學分析 X射線光電子能譜 X射線光電子能譜儀日常性能評估程序
  • DIN 51418-1:2008 X射線光譜測定法.X射線散射和X射線熒光分析(XRF).第1部分:定義和基本原理
  • DIN 51418-2:2015 X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測量、校準及評估的基本原則
  • DIN 51418-2:1996 X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測量、校準及評估的基本原則
  • DIN ISO 16129:2020 表面化學分析. X射線光電子能譜-評估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
  • DIN 51418-1:2008-08 射線光譜測定 X 射線發(fā)射和 X 射線熒光分析(XRF)第1部分：定義和基本原理
  • DIN 51418-1:1996 X光射線光譜測定法.X光射線散射和X光射線熒光分析(RFA).第1部分:定義和基本原理
  • DIN ISO 15472:2020-05 表面化學分析 - X 射線光電子能譜儀 - 能量標度校準 (ISO 15472:2010)
  • DIN 51418-2:2015-03 X 射線光譜測定 X 射線發(fā)射和 X 射線熒光分析(XRF)第2部分：測量、校準和結果評估的定義和基本原則
  • DIN ISO 15472:2020 表面化學分析 X 射線光電子能譜儀 能標校準（ISO 15472:2010）；英文文本
  • DIN ISO 15632:2022-09 微束分析 用于能量色散 X 射線光譜儀規(guī)格和檢查的選定儀器性能參數(shù)
  • DIN 51440-1:2003 汽油檢測.磷含量測定.第1部分:波長色散X射線光譜分析法
  • DIN EN ISO 8754:2003 石油產(chǎn)品.硫含量的測定.能量分散X射線熒光光譜法
  • DIN EN 10315:2006 使用臨近技術用X射線熒光光譜法(XRF)分析高合金鋼的常規(guī)法
  • DIN 51431-2:2004 潤滑劑的檢驗.鎂含量測定.第2部分:波長色散的X射線光譜分析法(XRF)
  • DIN EN 10315:2006-10 使用近旁技術通過 X 射線熒光光譜法(XRF)分析高合金鋼的常規(guī)方法
  • DIN 51577-4:1994 礦物油碳氫化合物和類似產(chǎn)品的檢驗.氯和溴含量的測定.用低價格儀器的能量散射X射線光譜儀分析
  • DIN 51391-2:1994-03 潤滑劑測試；添加元素含量的測定；通過波長色散 X 射線光譜 (XRS) 進行分析

英國標準學會，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • BS ISO 16129:2018 表面化學分析 X射線光電子能譜 X 射線光電子能譜儀日常性能評估程序
  • BS ISO 10810:2019 表面化學分析 X射線光電子能譜 分析指南
  • BS ISO 16129:2012 表面化學分析.X射線光電子能光譜學.X射線光電子能譜儀日常性能評估規(guī)程
  • BS ISO 10810:2010 表面化學分析.X射線光電子能譜法.分析指南
  • BS ISO 13424:2013 表面化學分析.X射線光譜.薄膜分析報表
  • BS ISO 18554:2016 表面化學分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對材料進行分析的X射線的意外降解的識別, 評估和修正程序
  • BS ISO 21270:2004 表面化學分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度尺度的線性
  • BS ISO 19830:2015 表面化學分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的最低報告要求
  • BS ISO 14701:2018 表面化學分析 X射線光電子能譜 氧化硅厚度的測量
  • BS ISO 14701:2011 表面化學分析.X射線光電子能譜學.二氧化硅厚度測量
  • BS ISO 16243:2011 表面化學分析.X射線光電子能譜術(XPS)的記錄和報告數(shù)據(jù)
  • BS ISO 17109:2022 表面化學分析 深度剖析 使用單層和多層薄膜的 X 射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質(zhì)譜濺射深度分析中濺射速率的測定方法...
  • 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化學分析 深度剖析 使用單一和……的 X 射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質(zhì)譜濺射深度分析中濺射速率測定方法
  • PD ISO/TS 18507:2015 表面化學分析 全反射 X 射線熒光光譜在生物和環(huán)境分析中的應用
  • BS ISO 15470:2005 表面化學分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
  • BS ISO 15470:2017 表面化學分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
  • BS PD ISO/TS 18507:2015 表面化學分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用
  • BS ISO 17109:2015 表面化學分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
  • BS ISO 15632:2012 微束分析. 用于電子探針顯微分析的能量分散X射線光譜儀規(guī)范和檢查用所選儀器性能參數(shù)
  • BS ISO 15632:2021 微束分析 用于電子探針顯微分析的能量分散X射線光譜儀規(guī)范和檢查用所選儀器性能參數(shù)
  • BS ISO 19668:2017 表面化學分析 X射線光電子能譜 均質(zhì)材料中元素檢測限的估計和報告
  • BS ISO 19318:2021 表面化學分析 X射線光電子能譜 報告用于電荷控制和電荷校正的方法
  • BS ISO 15472:2010 表面化學分析.X射線光電子分光計.能量等級的校準
  • BS ISO 17470:2014 微束分析. 電子探針顯微分析. 采用波長分散X射線光譜測定法的定性點分析指南
  • BS ISO 21270:2005 表面化學分析.X射線光電子和俄歇電子光譜儀.強度標的線性度
  • BS ISO 18516:2006 表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測定
  • BS ISO 18118:2015 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質(zhì)材料定量分析的指南
  • 23/30461294 DC BS ISO 18118 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質(zhì)材料定量分析的指南
  • BS ISO 20903:2019 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 用于確定峰值強度的方法和報告結果時所需的信息
  • 20/30423741 DC BS ISO 19318 表面化學分析 X射線光電子能譜 報告用于電荷控制和電荷校正的方法
  • DD ISO/TS 10798:2011 納米技術 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析表征單壁碳納米管
  • BS ISO 22489:2007 微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測量法作塊狀樣品的定量點分析
  • BS ISO 22489:2016 微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測量法作塊狀樣品的定量點分析
  • BS ISO 20903:2011 表面化學分析.俄歇電子能譜和X-射線光電光譜學.測定峰強度的方法和報告結果要求的信息
  • BS EN 10315:2006 臨近技術使用的X射線熒光光譜法(XRF)高合金鋼分析的常規(guī)方法
  • BS ISO 24237:2005 表面化學分析.X射線光電子光譜學.強度標的可重復性和穩(wěn)定性
  • BS EN 10315:2006(2010) 臨近技術使用的X射線熒光光譜法(XRF)高合金鋼分析的常規(guī)方法
  • BS ISO 19318:2005 表面化學分析.X射線光電光譜法.電荷控制和電荷校正方法的報告
  • BS ISO 14706:2000 表面化學分析.采用全反射X射線熒光(TXRF)光譜法對硅片表面元素污染物的測定
  • BS ISO 14706:2014 表面化學分析.采用全反射X射線熒光(TXRF)光譜法對硅片表面元素污染物的測定
  • BS ISO 14706:2001 表面化學分析 采用全反射X射線熒光（TXRF）光譜法對硅片表面元素污染物的測定

美國電氣電子工程師學會，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

美國材料與試驗協(xié)會，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • ASTM E1621-21 X射線發(fā)射光譜分析標準指南
  • ASTM E1621-05 X射線發(fā)散光譜分析標準指南
  • ASTM E996-94(1999) 俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數(shù)據(jù)報告的標準規(guī)程
  • ASTM E1085-95(2004) 金屬的X射線輻射光譜測定分析試驗方法
  • ASTM E1085-95(2000) 金屬的X射線輻射光譜測定分析試驗方法
  • ASTM E1085-95(2004)e1 金屬的X射線輻射光譜測定分析試驗方法
  • ASTM E572-94(2000) 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標準試驗方法
  • ASTM E572-02a(2006)e1 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標準試驗方法
  • ASTM E572-02a(2006) 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標準試驗方法
  • ASTM E572-02a 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標準試驗方法
  • ASTM E1361-90(1999) X射線光譜分析中入射效應校正的標準指南
  • ASTM E572-94(2000)e1 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標準試驗方法
  • ASTM E1361-02(2021) X射線光譜分析中入射效應校正的標準指南
  • ASTM D5381-93(2003) 顏料和填充劑的X射線螢光(XRF)光譜分析
  • ASTM D5381-93(1998) 顏料和填充劑的X射線螢光(XRF)光譜分析
  • ASTM E322-96e1 低合金鋼和鑄鐵的X射線發(fā)射光譜測定分析法
  • ASTM E1217-11(2019) 用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測到的信號的樣品區(qū)域的標準實踐
  • ASTM E1588-10e1 掃描電子顯微術/能量散射X射線光譜法射擊殘留物分析的標準指南
  • ASTM C1271-99(2006) 石灰和石灰?guī)rX射線光譜分析標準試驗方法
  • ASTM C1271-99 石灰石灰石X射線光譜分析的標準測試方法
  • ASTM C1271-99(2020) 石灰石灰石X射線光譜分析的標準測試方法
  • ASTM E2465-11e1 用 X 射線光譜法分析鎳基合金的標準試驗方法
  • ASTM C1271-99(2012) 石灰和石灰?guī)rX射線光譜分析的標準試驗方法
  • ASTM E1588-16 采用掃描電子顯微術/能量散射X射線光譜法進行射擊殘留物分析的標準指南
  • ASTM E322-96(2004) 低合金鋼和鑄鐵的X射線發(fā)射光譜分析的標準測試方法
  • ASTM E1621-13 波長色散X射線熒光光譜法元素分析的標準指南
  • ASTM C1255-93(1999) 用能量色散X射線熒光光譜法分析土壤中鈾和釷的標準試驗方法
  • ASTM C1255-18 用能量色散X射線熒光光譜法分析土壤中鈾和釷的標準試驗方法
  • ASTM C1255-93(2005) 用能量色散X射線熒光光譜法分析土壤中鈾和釷的標準試驗方法
  • ASTM C1255-11 用能量色散X射線熒光光譜法分析土壤中鈾和釷的標準試驗方法
  • ASTM E1588-16a 采用掃描電子顯微術/能量散射X射線光譜法進行射擊殘留物分析的標準實施規(guī)程
  • ASTM E1588-17 采用掃描電子顯微術/能量散射X射線光譜法進行射擊殘留物分析的標準實施規(guī)程
  • ASTM E539-11 利用 X 射線熒光光譜法分析鈦合金的標準試驗方法
  • ASTM E1085-09 用X 射線熒光光譜法分析低合金鋼的標準試驗方法
  • ASTM E2465-19 用X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標準試驗方法
  • ASTM E539-90(1996)e1 6鋁4釩鈦合金的X射線輻射光譜測定分析的標準試驗方法
  • ASTM E539-02 6鋁4釩鈦合金的X射線輻射光譜測定分析的標準試驗方法
  • ASTM E539-06 6鋁4釩鈦合金的X射線輻射光譜測定分析的標準試驗方法
  • ASTM E1588-07e1 用掃描電子顯微鏡法/能量色散X射線光譜測定法的射擊殘留物分析用標準指南
  • ASTM E1588-07 用掃描電子顯微鏡法/能量色散X射線光譜測定法的射擊殘留物分析用標準指南
  • ASTM F1375-92(2005) 氣體分配系統(tǒng)元部件用金屬表面狀態(tài)的能量分散X射線分光光譜分析試驗法
  • ASTM E1361-02 X射線光譜測定分析中共存元素效應校正的標準指南
  • ASTM E1361-02(2007) X射線光譜測定分析中共存元素效應校正的標準指南
  • ASTM E1361-02(2014)e1 X射線光譜測定分析中共存元素效應校正的標準指南
  • ASTM D5839-96(2001) 能量發(fā)散X射線熒光光譜法分析危險廢油中痕量元素的標準試驗方法
  • ASTM D5839-96(2006) 能量發(fā)散X射線熒光光譜法分析危險廢油中痕量元素的標準試驗方法
  • ASTM D5839-15(2023) 用能量分散X射線熒光光譜法分析危險廢燃料中微量元素的標準試驗方法
  • ASTM E1621-94(1999) 用波長色散X射線熒光光譜法進行元素分析的標準指南
  • ASTM E1621-22 用波長色散X射線熒光光譜法進行元素分析的標準指南
  • ASTM E1588-20 通過掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法進行槍支殘留分析的標準實踐
  • ASTM D5839-15 采用能量發(fā)散X射線熒光光譜法分析危險廢油中微量元素的標準試驗方法
  • ASTM E539-19 用波長色散X射線熒光光譜法分析鈦合金的標準試驗方法
  • ASTM E539-07 6鋁4釩鈦合金的X射線熒光光譜測定分析用標準試驗方法
  • ASTM E2465-11 用波長色散X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標準試驗方法
  • ASTM E1085-22 用波長色散X射線熒光光譜法分析低合金鋼的標準試驗方法
  • ASTM E2465-13 用波長色散X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標準試驗方法
  • ASTM D6247-98(2004) 用X射線熒光光譜法分析聚烯烴中元素含量的標準試驗方法
  • ASTM E1031-96 用 X 射線光譜法分析煉鐵和煉鋼渣的標準試驗方法（2002 年撤回）
  • ASTM D5839-96 通過能量分散X射線熒光光譜法對危險廢物燃料進行痕量元素分析的標準測試方法
  • ASTM E2465-06 用X射線熒光光譜測定法分析不銹鋼和合金鋼的標準試驗方法
  • ASTM D6247-98 用X射線熒光度譜術對聚烯烴內(nèi)元素含量分析的標準試驗方法
  • ASTM E572-02a(2006)e2 用X射線熒光光譜測定法分析不銹鋼和合金鋼的標準試驗方法
  • ASTM E1085-16 采用波長色散X射線熒光光譜法分析低合金鋼的標準試驗方法
  • ASTM D6445-99 能量分散X射線熒光光譜法測定汽油中硫的標準試驗方法
  • ASTM D6445-99(2004)e1 能量分散X射線熒光光譜法測定汽油中硫的標準試驗方法
  • ASTM F1375-92(2012) 氣體分配系統(tǒng)元部件用金屬表面狀態(tài)的能量分散X射線分光光譜儀 (EDX) 分析的標準試驗方法
  • ASTM E572-12 用波長色散X射線熒光光譜法分析不銹鋼和合金鋼的標準試驗方法
  • ASTM E322-12 用波長色散X射線熒光光譜法分析低合金鋼和鑄鐵的標準試驗方法
  • ASTM E572-13 用波長色散X射線熒光光譜法分析不銹鋼和合金鋼的標準試驗方法
  • ASTM D6247-10 用波長分散X射線熒光光譜分析聚烯烴中基本元素含量試的標準驗方法
  • ASTM E572-21 通過波長色散X射線熒光光譜法分析不銹鋼和合金鋼的標準試驗方法
  • ASTM C1110-03(2008) 使用玻璃熔化或壓制粉末法制備礦石中鈾X射線發(fā)射光譜分析用樣品的標準方法

法國標準化協(xié)會，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • NF X21-071:2011 表面化學分析.X射線光電子能譜法.分析用導則
  • NF X21-055:2006 表面化學分析.X射線光電譜儀.能量刻度表校準
  • NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化學分析.X射線光電子能譜術(XPS)的記錄和報告數(shù)據(jù)
  • NF ISO 16243:2012 表面化學分析 X 射線光電子能譜(XPS)中的數(shù)據(jù)記錄和報告
  • NF A11-103:1977 鈮鐵合金的化學分析.X射線熒光光譜法測定鈮
  • NF X21-003:2006 微光束分析.電子探針顯微分析.波長分布X射線光譜測量法定量分析指南
  • XP A06-379-1999 波長散射性X射線熒光光譜分析的標準常規(guī)用法的制定指南
  • NF M07-053*NF EN ISO 8754:2003 石油產(chǎn)品 硫含量測定 能量分散X射線熒光光譜法
  • NF X21-061:2008 表面化學分析.螺旋電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測定
  • NF S92-502:2006 醫(yī)用生物分析實驗室.人類輻射學.肺計數(shù).低能X-射線和α-射線發(fā)射器(小于200 keV)
  • FD A06-326*FD CEN/TR 10354:2011 黑色金屬材料的化學分析 硅鐵的分析 X射線熒光光譜法測定硅鐵中的Si和Al
  • FD T16-203:2011 納米技術 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析法表征單壁碳納米管
  • NF X21-006:2007 微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測量法進行塊狀樣品的定量點分析
  • NF A06-377*NF EN 10315:2006 用帶新技術的X射線熒光光譜測定法(XRF)分析高合金鋼的通用方法
  • NF X21-008:2012 微光束分析.帶半導體探測器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)格
  • NF EN ISO 13196:2015 土壤質(zhì)量 – 使用便攜式或手持式能量色散 X 射線熒光光譜儀快速分析土壤中的選定元素
  • NF M07-110*NF EN ISO 20847:2004 石油產(chǎn)品 機動車燃料的硫含量測定 能量分散X射線熒光光譜法
  • NF X21-058:2006 表面化學分析.俄歇電子能譜學和X射線光電子光譜法.測定峰強度使用的方法和報告結果時需要的信息

日本工業(yè)標準調(diào)查會，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • JIS G 1256:1997 鋼鐵.X射線熒光光譜分析法
  • JIS M 8205:2000 鐵礦石.X射線熒光光譜儀分析
  • JIS R 2216:2005 耐火制品X射線熒光光譜分析法
  • JIS H 1631:2008 鈦合金.X射線熒光光譜測定分析法
  • JIS G 1256 AMD 1:2010 鋼鐵.X射線熒光光譜測定分析方法
  • JIS G 1351:2006 鐵合金.X-射線熒光光譜測定分析法
  • JIS H 1292:1997 銅和銅合金的X射線熒光光譜分析法
  • JIS H 1287:2015 鎳和鎳合金. X射線熒光光譜分析方法
  • JIS G 1256 AMD 2:2013 鋼鐵.X射線熒光光譜分析法(修改件2)
  • JIS K 0152:2014 表面化學分析. X射線光電子能譜分析. 強度標的重復性和一致性
  • JIS H 1669:1990 鋯合金的X射線熒光光譜測定分析方法
  • JIS G 1351:1987 鐵合金的X射線熒光光譜測定分析方法
  • JIS R 2216:1995 耐火磚和耐火灰漿X射線熒光光譜分析方法
  • JIS K 0162:2010 表面化學分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
  • JIS K 0190:2010 微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法對質(zhì)量點分析用指南
  • JIS K 0145:2002 表面化學分析.X射線光電子分光計.能量刻度的校準
  • JIS K 0189:2013 微束分析.電子探針顯微分析.波長色散X射線光譜學用實驗參數(shù)的測定
  • JIS K 0167:2011 表面化學分析.俄歇電子光譜和X射線光電子能譜學.勻質(zhì)材料定量分析用實驗室測定相對敏感因子的使用指南
  • JIS T 0306:2002 用X射線光電子光譜法分析金屬生物材料形成的無源膜的狀態(tài)

行業(yè)標準-黑色冶金，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

RU-GOST R，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • GOST R 55080-2012 鑄鐵. X射線熒光光譜(XRF)分析法
  • GOST 16865-1979 X射線結構和光譜分析裝置.術語和定義
  • GOST R ISO 16243-2016 確保測量一致性的國家系統(tǒng). 表面化學分析. X射線光電子能譜 (XPS) 的記錄和報告數(shù)據(jù)
  • GOST 32139-2013 石油和石油制品. 使用能量分散X射線熒光光譜法測定硫含量

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • GB/T 36401-2018 表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果的報告
  • GB/T 41073-2021 表面化學分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合報告的基本要求
  • GB/T 16597-2019 冶金產(chǎn)品分析方法 X射線熒光光譜法通則
  • GB/T 41064-2021 表面化學分析 深度剖析 用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質(zhì)譜中深度剖析濺射速率的方法
  • GB/T 21114-2019 耐火材料 X射線熒光光譜化學分析 熔鑄玻璃片法
  • GB/T 40110-2021 表面化學分析 全反射X射線熒光光譜法（TXRF）測定硅片表面元素污染
  • GB/T 41105.3-2021 無損檢測 X射線管電壓的測量和評價 第3部分：能譜法

行業(yè)標準-地質(zhì)，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • DZ/T 0279.10-2016 區(qū)域地球化學樣品分析方法 第10部分：氯和溴量測定 粉末壓片——X射線熒光光譜法
  • DZ/T 0279.1-2016 區(qū)域地球化學樣品分析方法 第1部分：三氧化二鋁等24個成分量測定 粉末壓片—X射線熒光光譜法
  • DZ/T 0279.11-2016 區(qū)域地球化學樣品分析方法 第11部分：銀、硼和錫量測定 交流電弧——發(fā)射光譜法
  • DZ/T 0279.12-2016 區(qū)域地球化學樣品分析方法 第12部分：鉑、鈀和金量測定 火試金富集——發(fā)射光譜法

安徽省標準，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • DB34/T 2127.2-2014 區(qū)域地球化學調(diào)查樣品分析方法 第2部分：X 射線熒光光譜法多元素含量的測定
  • DB34/T 2127.11-2014 區(qū)域地球化學調(diào)查樣品分析方法 第11部分：發(fā)射光譜法銀、硼、錫、鉛含量的測定
  • DB34/T 2127.12-2014 區(qū)域地球化學調(diào)查樣品分析方法 第12部分：化學處理-發(fā)射光譜法 金含量的測定

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • GB/T 22571-2017 表面化學分析 X射線光電子能譜儀 能量標尺的校準
  • GB/T 33502-2017 表面化學分析 X射線光電子能譜（XPS）數(shù)據(jù)記錄與報告的規(guī)范要求

KR-KS，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化學分析-X射線光電子能譜儀-能量刻度的校準
  • KS D ISO 17054-2018 通過X射線熒光光譜法（XRF）分析高合金鋼的常規(guī)方法
  • KS D ISO 15632-2018 微束分析 - 用于電子探針微量分析的能量色散X射線光譜儀的規(guī)范和檢查的選定儀器性能參數(shù)
  • KS D ISO 22489-2018 微束分析 - 電子探針微量分析 - 使用波長色散X射線光譜法的批量樣品的定量點分析
  • KS D ISO 22489-2018(2023) 微束分析.電子探針微量分析.用波長色散x射線光譜法對大塊樣品進行定量點分析
  • KS D ISO 17054-2018(2023) 用近場技術用X射線熒光光譜法（XRF）分析高合金鋼的常規(guī)方法

工業(yè)和信息化部/國家能源局，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

行業(yè)標準-電力，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • DL/T 1151.22-2012 火力發(fā)電廠垢和腐蝕產(chǎn)物分析方法.第22部分：X-射線熒光光譜和X-射線衍射分析

廣東省標準，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

未注明發(fā)布機構，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

行業(yè)標準-核工業(yè)，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

福建省地方標準，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • DB35/T 110-2000 油漆物證檢測電子探針和掃描電鏡X射線能譜分析方法

IN-BIS，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • IS 12803-1989 X射線熒光光譜儀分析水硬性水泥的方法

國家計量技術規(guī)范，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • JJF 1133-2005 X射線熒光光譜法黃金含量分析儀校準規(guī)范

行業(yè)標準-商品檢驗，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • SN/T 2079-2008 不銹鋼及合金鋼分析方法X-射線熒光光譜法

歐洲標準化委員會，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • CEN/TR 10354:2011 黑色金屬材料化學分析 硅鐵分析 X射線熒光光譜法測定硅和鋁
  • PD CEN/TR 10354:2011 黑色金屬材料的化學分析 硅鐵的分析 X射線熒光光譜法測定硅和鋁
  • EN 10315:2006 使用臨近技術用X射線熒光光譜法(XRF)分析高合金鋼的常規(guī)法

行業(yè)標準-有色金屬，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • YS/T 483-2005 銅及銅合金分析方法 X射線熒光光譜法 (波長色散型)
  • YS/T 273.14-2008 冰晶石化學分析方法和物理性能測定方法 14部分:X射線熒光光譜分析法測定元素含量
  • YS/T 581.10-2006 氟化鋁化學分析方法和物理性能測定方法　第10部分：X射線熒光光譜分析法測定硫含量
  • YS/T 273.11-2006 冰晶石化學分析方法和物理性能測定方法.第11部分：x射線熒光光譜分析法測定硫含量
  • YS/T 581.16-2008 氟化鋁化學分析方法和物理性能測定方法 第16部分 X射線熒光光譜分析法測定元素含量
  • YS/T 703-2014 石灰石化學分析方法 元素含量的測定 X射線熒光光譜法
  • YS/T 581.18-2012 氟化鋁化學分析方法和物理性能測定方法 第18部分：X射線熒光光譜分析（壓片）法測定元素含量
  • YS/T 273.15-2012 冰晶石化學分析方法和物理性能測定方法 第15部分：X射線熒光光譜分析（壓片）法測定元素含量
  • YS/T 575.23-2009 鋁土礦石化學分析方法.第23部分:X射線熒光光譜法測定元素含量
  • YS/T 820.19-2012 紅土鎳礦化學分析方法.第19部分：鋁、鉻、鐵、鎂、錳、鎳和硅量的測定.能量色散X射線熒光光譜法
  • YS/T 806-2012 鋁及鋁合金中稀土分析方法.X-射線熒光光譜法測定.鑭、鈰、鐠、釹、釤含量
  • YS/T 63.16-2006 鋁用炭素材料檢測方法　第16部分：微量元素的測定X射線熒光光譜分析方法

工業(yè)和信息化部，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • YS/T 483-2022 銅及銅合金分析方法 X射線熒光光譜法 （波長色散型）
  • YS/T 1033-2015 干式防滲料元素含量的測定 X射線熒光光譜分析法
  • YS/T 581.15-2012 氟化鋁化學分析方法和物理性能測定方法 第15部分：X射線熒光光譜分析（壓片）法測定元素含量
  • YS/T 806-2020 鋁及鋁合金化學分析方法 元素含量的測定 X射線熒光光譜法
  • YS/T 575.23-2021 鋁土礦石化學分析方法 第23部分：元素含量的測定 X射線熒光光譜法

丹麥標準化協(xié)會，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • DS/CEN/TR 10354:2012 黑色金屬材料的化學分析 硅鐵分析 X射線熒光光譜法測定Si和Al
  • DS/ISO/TS 10798:2011 納米技術 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析法表征單壁碳納米管
  • DS/EN 10315:2006 采用近旁技術的 X 射線熒光光譜法（XRF）分析高合金鋼的常規(guī)方法

行業(yè)標準-化工，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • HG/T 6150-2023 潤滑油加氫異構催化劑化學成分分析方法 X射線熒光光譜法

美國國家標準學會，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

中國團體標準，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • T/IMPCA 0001-2021 化工裝置鋼鐵及其制品中合金元素 X 射線 熒光光譜分析方法
  • T/NAIA 0128-2022 氫氧化鋁快速測定 X射線熒光光譜分析（壓片）法測定元素含量

VN-TCVN，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • TCVN 3172-2008 石油和石油產(chǎn)品.用能量分散X射線熒光光譜法測定硫磺

BE-NBN，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • NBN-ISO 8754:1993 石油產(chǎn)品．硫含量的測定．能量分散X射線熒光光譜測定法

臺灣地方標準，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • CNS 14472-2000 石油產(chǎn)品中硫含量測定法(能量分布式X-射線螢光光譜法)

立陶宛標準局，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • LST EN 10315-2006 采用近旁技術的 X 射線熒光光譜法（XRF）分析高合金鋼的常規(guī)方法

AENOR，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • UNE-EN 10315:2007 采用近旁技術的 X 射線熒光光譜法（XRF）分析高合金鋼的常規(guī)方法

云南省地方標準，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • DB53/T 639.7-2014 直接還原鐵化學分析方法 第7部分：多元素的測定 X射線熒光光譜法

行業(yè)標準-公共安全標準，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • GA/T 1521-2018 法庭科學 塑料元素成分檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
  • GA/T 1519-2018 法庭科學 墨粉元素成分檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

行業(yè)標準-機械，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

  • JB/T 8425-1996 鐵基噴涂粉末中鉻、鎳、鉬和釩的X射線熒光光譜分析標準試驗方法
  • JB/T 11602.3-2013 無損檢測儀器 X射線管電壓的測量和評定 第3部分:能譜檢測

行業(yè)標準-紡織，關于x射線能譜分析區(qū)域的標準

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