高能x射線能譜 儀
本專題涉及高能x射線能譜 儀的標準有100條。
國際標準分類中，高能x射線能譜 儀涉及到分析化學、輻射測量、長度和角度測量、核能工程、光學和光學測量、輻射防護、攝影技術、電學、磁學、電和磁的測量、無損檢測、天文學、大地測量學、地理學、電線和電纜、醫療設備、金屬礦、電子元器件綜合、犯罪行為防范。
在中國標準分類中，高能x射線能譜 儀涉及到基礎標準與通用方法、質譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯用裝置、電子光學與其他物理光學儀器、通用核儀器、核儀器與核探測器綜合、電化學、熱化學、光學式分析儀器、醫用射線設備、電子測量與儀器綜合、實驗室基礎設備、電纜及其附件、光學測試儀器、鐵礦、半導體分立器件綜合、Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器、電離輻射計量、化學、標準化、質量管理、犯罪鑒定技術。
德國標準化學會，關于高能x射線能譜 儀的標準
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化學分析 X射線光電子能譜 X射線光電子能譜儀日常性能評估程序
- DIN ISO 16129 E:2020-01 表面化學分析 X射線光電子能譜-評估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序
- DIN ISO 15472 E:2019-09 表面化學分析 X 射線光電子能譜儀 能標校準
- DIN ISO 16129:2020 表面化學分析. X射線光電子能譜-評估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化學分析 - X 射線光電子能譜儀 - 能量標度校準 (ISO 15472:2010)
- DIN ISO 15472:2020 表面化學分析 X 射線光電子能譜儀 能標校準（ISO 15472:2010）；英文文本
- DIN ISO 15632:2022-09 微束分析 用于能量色散 X 射線光譜儀規格和檢查的選定儀器性能參數
英國標準學會，關于高能x射線能譜 儀的標準
- BS ISO 16129:2018 表面化學分析 X射線光電子能譜 X 射線光電子能譜儀日常性能評估程序
- BS ISO 16129:2012 表面化學分析.X射線光電子能光譜學.X射線光電子能譜儀日常性能評估規程
- BS ISO 21270:2004(2010) 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標度線性度
- BS ISO 21270:2004 表面化學分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度尺度的線性
- BS ISO 15470:2005 表面化學分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數的描述
- BS ISO 15470:2017 表面化學分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數的描述
國際標準化組織，關于高能x射線能譜 儀的標準
- ISO 16129:2018 表面化學分析 - X射線光電子能譜 - 評估X射線光電子能譜儀日常性能的方法
- ISO 16129:2012 表面化學分析.X射線光電子能光譜學.X射線光電子能譜儀日常性能評估規程
- ISO 21270:2004 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標的線性
- ISO 15470:2017 表面化學分析. X射線光電子能譜. 選擇儀器性能參數說明
- ISO 15472:2001 表面化學分析 X射線光電譜儀 能量刻度表校準
- ISO 15472:2010 表面化學分析.X射線光電譜儀.能量刻度表校準
- ISO 15470:2004 表面化學分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數的描述
國家質檢總局，關于高能x射線能譜 儀的標準
- GB/T 25184-2010 X射線光電子能譜儀鑒定方法
- GB/T 20726-2006 半導體探測器X射線能譜儀通則
- GB/T 21006-2007 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標的線性
- GB/T 31364-2015 能量色散X射線熒光光譜儀主要性能測試方法
- GB/T 11685-2003 半導體X射線探測器系統和半導體X射線能譜儀的測量方法
- GB/T 22571-2008 表面化學分析.X射線光電子能譜儀.能量標尺的校準
- GB/T 28892-2012 表面化學分析.X射線光電子能譜.選擇儀器性能參數的表述
- GB/T 28892-2024 表面化學分析 X射線光電子能譜 選擇儀器性能參數的表述
- GB/T 19500-2004 X射線光電子能譜分析方法通則
- GB/T 20726-2015 微束分析 電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數及核查方法
GSO，關于高能x射線能譜 儀的標準
- OS GSO ISO 16129:2014 表面化學分析 X射線光電子能譜 評估X射線光電子能譜儀日常性能的程序
- BH GSO ISO 16129:2015 表面化學分析 X射線光電子能譜 評估X射線光電子能譜儀日常性能的程序
- OS GSO IEC 60759:2015 半導體 X 射線能譜儀的標準測試程序
- GSO IEC 60759:2015 半導體 X 射線能譜儀的標準測試程序
- GSO ISO 21270:2014 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標度的線性
- BH GSO ISO 21270:2016 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標度的線性
- OS GSO ISO 21270:2014 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標度的線性
- BH GSO ISO 15472:2016 表面化學分析 X射線光電子能譜儀 能量標度的校準
- GSO ISO 16129:2014 表面化學分析 納米 X 射線光譜 評估納米 X 射線光譜日常性能的程序
- GSO ISO 15472:2013 表面化學分析 X射線光譜 能量計校準
SCC，關于高能x射線能譜 儀的標準
- 11/30230635 DC BS ISO 16129 表面化學分析 X射線光電子能譜法 X射線光電子能譜儀日常性能評估程序
- DIN ISO 16129 E:2020 文件草案 表面化學分析 X 射線光電子能譜 X 射線光電子能譜儀日常性能評估程序（ISO 16129:2018） 英文文本
- BS ISO 15472:2001 表面化學分析 X射線光電子能譜儀 能量標度的校準
- ISO 15472:2001/DAmd 1 表面化學分析 X 射線光電子能譜儀 能量校準 修改件1
- BS ISO 15470:2004 表面化學分析 X射線光電子能譜 所選儀器性能參數的描述
- BS ISO 15632:2002 微束分析 帶半導體探測器的能量色散X射線光譜儀的儀器規范
- DIN ISO 15472 E:2019 文件草案 表面化學分析 X射線光電子能譜儀 能量標度校準（ISO 15472:2010） 英文文本
- 11/30199190 DC BS ISO 15632 微束分析 電子探針微分析用能量色散X射線光譜儀的規范和檢查儀器性能參數
SE-SIS，關于高能x射線能譜 儀的標準
- SIS SS IEC 759:1986 核檢測儀表．半導體X射線能譜儀檢測程序
韓國科技標準局，關于高能x射線能譜 儀的標準
- KS C IEC 60759-2019 半導體 X 射線能譜儀的標準測試程序
- KS D ISO 21270:2005 表面化學分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標的線性
- KS C IEC 60759:2009 半導體X射線能譜儀的標準試驗程序
- KS C IEC 60759-2009(2019) 半導體X射線能譜儀的標準測試程序
- KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化學分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強度標度的線性
- KS D ISO 21270-2020 表面化學分析 X射線光電子能譜和俄歇電子能譜儀 強度標度線性度
- KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化學分析X射線光電子能譜儀部分性能參數說明
- KS D ISO 15470-2020 表面化學分析 X射線光電子能譜 所選儀器性能參數說明
- KS D ISO 15472:2003 表面化學分析.X射線光電光譜儀.能量刻度的校正
- KS D ISO 15470:2005 表面化學分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數的描述
國際電工委員會，關于高能x射線能譜 儀的標準
- IEC 60759:1983 半導體X射線能譜儀的標準試驗程序
- IEC 60759:1983/AMD1:1991 半導體X射線能譜儀的標準試驗程序 修改1
CZ-CSN，關于高能x射線能譜 儀的標準
- CSN 35 6575 Z1-1997 半導體X射線能譜儀的標準測試程序
國家計量技術規范，關于高能x射線能譜 儀的標準
- JJF 2024-2023 能量色散X射線熒光光譜儀校準規范
- JJF 2067-2023 射線能譜儀校準規范
美國電氣電子工程師學會，關于高能x射線能譜 儀的標準
- ANSI/IEEE Std 759-1984 半導體 X 射線能譜儀的 IEEE 標準測試程序
- IEEE 759-1984 半導體X射線能譜分析器的試驗程序
IN-BIS，關于高能x射線能譜 儀的標準
- IS 12737-1988 半導體 X 射線能量光譜儀的標準測試程序
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于高能x射線能譜 儀的標準
- GB/T 22571-2017 表面化學分析 X射線光電子能譜儀 能量標尺的校準
工業和信息化部/國家能源局，關于高能x射線能譜 儀的標準
- JB/T 12962.2-2016 能量色散X射線熒光光譜儀 第2部分：元素分析儀
- JB/T 12962.3-2016 能量色散X射線熒光光譜儀 第3部分：鍍層厚度分析儀
- JB/T 12962.1-2016 能量色散X射線熒光光譜儀 第1部分：通用技術
KR-KS，關于高能x射線能譜 儀的標準
- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化學分析-X射線光電子能譜儀-能量刻度的校準
行業標準-機械，關于高能x射線能譜 儀的標準
- JB/T 11145-2011 X射線熒光光譜儀
- JB/T 11144-2011 X射線衍射儀
- JB/T 11602.3-2013 無損檢測儀器 X射線管電壓的測量和評定 第3部分:能譜檢測
- JB/T 12457-2015 無損檢測儀器 線路板檢測用X射線檢測儀性能試驗方法
美國材料與試驗協會，關于高能x射線能譜 儀的標準
- ASTM E2108-16 X射線光電子能譜儀的電子結合能量標尺的標準實踐
- ASTM E902-94(1999) 檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標準實施規程
- ASTM E996-04 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報告數據的標準規程
- ASTM E996-10 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報告數據的標準規程
- ASTM E1217-11(2019) 用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測到的信號的樣品區域的標準實踐
日本工業標準調查會，關于高能x射線能譜 儀的標準
- JIS Z 4302:2002 γ射線及高能X射線膠片劑量計
- JIS Z 4302:1997 γ射線及高能X射線用膠片劑量計
- JIS C 3407:1987 X射線儀用高壓電纜
- JIS C 3407:2003 X射線儀用高壓電纜
- JIS M 8205:2000 鐵礦石.X射線熒光光譜儀分析
- JIS K 0162:2010 表面化學分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數的描述
行業標準-電子，關于高能x射線能譜 儀的標準
- SJ/T 10714-1996 檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標準方法
- SJ/T 10458-1993 俄歇電子能譜術和X射線光電子能譜術的樣品處理標準導則
法國標準化協會，關于高能x射線能譜 儀的標準
- NF X21-055:2006 表面化學分析.X射線光電譜儀.能量刻度表校準
RU-GOST R，關于高能x射線能譜 儀的標準
- GOST 22091.14-1986 X射線儀.X射線能通量密度（光通量密度）測量方法
- GOST 25645.118-1984 離散源的X射線輻射.能譜和角坐標
- GOST 22091.7-1984 X射線儀.X射線輻射場能通量密度分布均勻性測量方法
行業標準-醫藥，關于高能x射線能譜 儀的標準
- YY/T 0724-2009 雙能X射線骨密度儀專用技術條件
國家藥監局，關于高能x射線能譜 儀的標準
- YY/T 0724-2021 雙能X射線骨密度儀專用技術條件
行業標準-核工業，關于高能x射線能譜 儀的標準
- EJ/T 684-2016 便攜式能量色散X射線熒光分析儀
澳大利亞標準協會，關于高能x射線能譜 儀的標準
- AS ISO 15470:2006(R2016) 表面化學分析 X射線光電子光譜法 選定儀器性能參數的描述
- AS ISO 15470:2006 表面化學分析．X射線光電子光譜法．選定儀器性能參數的描述
國家計量檢定規程，關于高能x射線能譜 儀的標準
- JJG(地質) 1006-1990 3080E型X射線熒光光譜儀檢定規程
行業標準-司法，關于高能x射線能譜 儀的標準
- SF/T 0139-2023 泥土檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
