掃描電子顯微鏡怎么校準
本專題涉及掃描電子顯微鏡怎么校準的標準有43條。
國際標準分類中，掃描電子顯微鏡怎么校準涉及到光學設備、分析化學、光學和光學測量、詞匯、長度和角度測量、建筑材料、教育。
在中國標準分類中，掃描電子顯微鏡怎么校準涉及到電子光學與其他物理光學儀器、放大鏡與顯微鏡、基礎標準與通用方法、電磁計量、技術管理、檢驗專用設備、教學專用儀器、化學計量、記錄儀器及光線示波器、光學設備。
國家計量技術規范，關于掃描電子顯微鏡怎么校準的標準
- JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準規范
- JJF 1351-2012 掃描探針顯微鏡校準規范
美國材料與試驗協會，關于掃描電子顯微鏡怎么校準的標準
- ASTM E766-98 校準掃描電子顯微鏡的放大倍數
- ASTM E766-98(2003) 校準掃描電子顯微鏡的放大倍數
- ASTM E766-14 掃描電子顯微鏡放大倍率校準的標準方法
- ASTM E766-98(2008)e1 掃描電子顯微鏡的放大系數的標準校正規范
- ASTM E766-14(2019) 校準掃描電子顯微鏡的放大倍數的標準實施規程
- ASTM E766-14e1 用于校準掃描電子顯微鏡的放大倍數的標準實施規程
- ASTM E2382-04(2020) 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和尖端相關人工標準指南
上海市標準，關于掃描電子顯微鏡怎么校準的標準
- DB31/T 297-2003 掃描電子顯微鏡放大倍率校準方法
英國標準學會，關于掃描電子顯微鏡怎么校準的標準
- BS ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.圖像放大校準指南
- BS ISO 16700:2016 微束分析 掃描電子顯微鏡 校準圖像放大率的指南
- BS ISO 22493:2008 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標記圖像文件格式
國際標準化組織，關于掃描電子顯微鏡怎么校準的標準
- ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
- ISO 16700:2016 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
- ISO 22493:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡方法.詞匯
韓國科技標準局，關于掃描電子顯微鏡怎么校準的標準
- KS D ISO 16700:2013 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
- KS D ISO 16700-2013(2018) 微束分析－掃描電子顯微鏡－圖像放大率校準指南
- KS D ISO 16700-2023 微束分析掃描電子顯微鏡圖像放大率校準指南
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS M 0044-1999 掃描電子顯微鏡的一般規則
- KS I 0051-1999(2019) 掃描電子顯微鏡的一般規則
- KS I 0051-2019 掃描電子顯微鏡的一般規則
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.掃描電子顯微鏡.術語
- KS I 0051-1999 掃描電子顯微鏡試驗方法通則
法國標準化協會，關于掃描電子顯微鏡怎么校準的標準
- NF X21-005:2006 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
日本工業標準調查會，關于掃描電子顯微鏡怎么校準的標準
- JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則
- JIS K 0149-1:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡法.校準圖像放大指南
SCC，關于掃描電子顯微鏡怎么校準的標準
- 13/30203227 DC BS ISO 13083 表面化學分析 掃描探針顯微鏡 掃描擴散電阻顯微鏡和掃描電容顯微鏡的空間分辨率定義和校準標準
- 06/30128226 DC ISO 22493 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于掃描電子顯微鏡怎么校準的標準
- GB/T 33834-2017 微束分析 掃描電子顯微術 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法
國家計量檢定規程，關于掃描電子顯微鏡怎么校準的標準
- JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規程
- JJG 550-1988 掃描電子顯微鏡試行檢定規程
行業標準-機械，關于掃描電子顯微鏡怎么校準的標準
- JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗方法
- JB/T 5384-1991 掃描電子顯微鏡.技術條件
巴林國家計量局，關于掃描電子顯微鏡怎么校準的標準
- BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
GSO，關于掃描電子顯微鏡怎么校準的標準
- GSO ISO 22493:2015 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
俄羅斯標準局，關于掃描電子顯微鏡怎么校準的標準
- GOST R 8.636-2007 國家測量統一性保證體系.掃描電子顯微鏡.校準方法
行業標準-教育，關于掃描電子顯微鏡怎么校準的標準
- JY/T 0584-2020 掃描電子顯微鏡分析方法通則
