x射線光電子譜儀與能譜儀
本專題涉及x射線光電子譜儀與能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)有26條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線光電子譜儀與能譜儀涉及到分析化學(xué)、長度和角度測量、光學(xué)和光學(xué)測量、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測量。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線光電子譜儀與能譜儀涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、電子測量與儀器綜合。
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于x射線光電子譜儀與能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 22571-2017 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于x射線光電子譜儀與能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 25184-2010 X射線光電子能譜儀鑒定方法
- GB/T 22571-2008 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀.能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
- GB/T 21006-2007 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標(biāo)的線性
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于x射線光電子譜儀與能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN ISO 16129-2020 表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜-評估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于x射線光電子譜儀與能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E1217-11(2019) 用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測到的信號的樣品區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)實踐
- ASTM E2108-16 X射線光電子能譜儀的電子結(jié)合能量標(biāo)尺的標(biāo)準(zhǔn)實踐
- ASTM E1217-11 用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測到的信號的樣品區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)實踐
- ASTM E2108-10 X射線光電子能譜儀的電子結(jié)合能量標(biāo)尺的標(biāo)準(zhǔn)實踐
- ASTM E1217-05 用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測到的信號的樣品區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)實踐
- ASTM E2108-05 X射線光電子能譜儀的電子結(jié)合能量標(biāo)尺的標(biāo)準(zhǔn)實踐
- ASTM E2108-00 X射線光電子能譜儀的電子結(jié)合能量標(biāo)尺的標(biāo)準(zhǔn)實踐
- ASTM E1217-00 用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測到的信號的樣品區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)實踐
- ASTM E902-94(1999) 檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于x射線光電子譜儀與能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 16129-2018 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜 - 評估X射線光電子能譜儀日常性能的方法
- ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析——X射線光電子能譜；X射線光電子能譜儀日常性能評估程序
- ISO 16129-2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評估規(guī)程
- ISO 15472:2010 表面化學(xué)分析——X射線光電子能譜儀——能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
- ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析——X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀——強度標(biāo)度線性
- ISO 21270-2004 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標(biāo)的線性
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于x射線光電子譜儀與能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 16129-2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評估規(guī)程
韓國標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線光電子譜儀與能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 21270-2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標(biāo)的線性
- KS D ISO 21270-2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標(biāo)的線性
，關(guān)于x射線光電子譜儀與能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀部分性能參數(shù)說明
- KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強度標(biāo)度的線性
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于x射線光電子譜儀與能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- SJ/T 10714-1996 檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標(biāo)準(zhǔn)方法
