X 射線熒光光譜法的應用領域介紹
X 射線熒光光譜法可用于冶金、地質、化工、機械、石油、建材等工業部門，以及物理、化學、生物、地學、環境科學、考古學等。還可用于測定涂層和金屬薄膜的厚度和組成以及動態分析等。
在常規分析和某些特殊分析方面，包括工業上的開環單機控制和閉環聯機控制，本法均能發揮重大作用。分析范圍包括原子序數Z≥3（鋰）的所有元素，常規分析一般用于Z≥9（氟）的元素。分析靈敏度隨儀器條件、分析對象和待測元素而異，新型儀器的檢出限一般可達10-5～10-6克/克；在比較有利的條件下，對許多元素也可以測到10-7～10-9克/克（或10-7～10-9克/厘米3）,而采用質子激發的方法，其靈敏度更高，檢出限有時可達10-12克/克（對Z>15的元素）。至于常量元素的測定，X射線熒光分析法的迅速和準確,是許多其他儀器分析方法難與相比的。
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