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安捷倫科技（中國）有限公司
| 產地類別：進口 | 供應商性質：一般經銷商 |
J200采用了一種自動調高傳感器，該傳感器的設計考慮到了樣品表面的形態變化。這一特性使得J200能夠保持的激光聚焦，不論高度差異如何，在所有采樣點上提供相同的激光通量，并在所有采樣點上實現一致的激光剝蝕。這一創新的傳感器特性是由應用光譜公司的科學團隊開發的一項Z L技術。
J200的Flex樣品室的設計能夠容納直徑為4英寸的樣品，它使用一組可互換的頂部和底部鑲嵌塊來調節氣流條件（層流和紊流）和微粒沖洗時間。此外，Flex樣品室的設計是為等離子體光提供一個佳的視角，從而保證在激光剝蝕過程中進行靈敏的LIBS檢測。
根據測量目標(主要成分分析、包裹體分析、高分辨率深度分析、元素成像等)，有必要對樣品室的各個性能指標進行優化，指標包括：沖洗時間、顆粒混合、樣品室內的流動特性
激光剝蝕—激光誘導擊穿光譜相結合，實現了LIBS與LA-ICP-MS的同時測量，具備多種測量功能：同時測量常量、微量元素及同位素（與ICP-MS聯用）；分析有機元素及輕元素；快速元素制圖；歸一化ICP-MS等離子體發射信號。可用于礦物元素定量分析、鋯石U-Pb定年、礦物熔體及流體包裹體分析、微區同位素分析和定年技術研究等地質研究領域。能夠同時測定主要元素、微量元素以及同位素，快速繪制元素圖。
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注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途。
