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安捷倫科技（中國）有限公司
| 產地類別：進口 | 供應商性質：生產商 |
自動觀察
自動完成光路調整、掃描參數設定、圖像處理
使用標準樣品和標準探針時操作用時5分鐘*
*自動觀察模式，掃描范圍1um× 1um ，256×256點陣。操作時長依賴于操作者。
傳統的原子力顯微鏡需要人工調整光路、設定掃描參數、進行圖像處理。但是SPM-Nanoa可以幫助用戶毫無壓力地完成這些操作
性能優異
從光學顯微鏡到SPM/AFM，各模式下均可清晰地捕捉圖像
利用光學顯微鏡搜索目標區域，利用SPM可以方便地進行高分辨率觀察。利用與表面形狀圖像相同的視場可以獲得其他物理特性信息。
樣品：硅基底上的二氧化硅圖案
豐富多樣的掃描模式
從形貌觀察到基于力曲線測量的物性分析，支持廣泛的掃描模式。這意味著可以兼顧高分辨率與物性測試。
搜尋目標區域更容易
利用清晰地光學顯微鏡圖像，可以輕松找到目標區域，不用擔心振動的影響。
SPM-Nanoa集成了一體式高性能光學顯微鏡。
高分辨觀察表面物性
極軟樣品的變形或樣品局部的機械及電氣性能的差異，都可以獲得高分辨率的觀測圖像。
8K成像助力大范圍高分辨掃描
最大可支持8K（81929192）掃描點陣，大范圍區域的小細節也纖毫畢現。
省時高效
支持功能功能模式高速觀察
通過高速觀察和物性高速成譜功能，顯著減少了觀測時間。
探針更換工具和樣品更換機構有效縮短了掃描準備時間。
高通量觀測
高速物性成譜
采用了可實現高速響應的HT掃描器并優化了控制算法，從而大幅縮短了觀察和物性成像的數據獲取時間
簡便順滑地樣品更換
高速物性成譜
一鍵式操作實現自動開啟、關閉平臺，放置和取出樣品。
由于固定了激光的照射位置，所以在樣品更換后可立即進行觀察。
SPM-Nanoa 原子力顯微鏡由島津企業管理（中國）有限公司/島津（香港）有限公司為您提供，如您想了解更多關于SPM-Nanoa 原子力顯微鏡 報價、型號、參數等信息，歡迎來電或留言咨詢。
注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途。
